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高水平大学共享平台购深能级瞬态谱仪采购预告

招标广东
发布时间:2016-04-25

招标内容

( 高水平大学共享平台购深能级瞬态谱仪 )需求公示 项目名称 深能级瞬态谱仪 是否预选项目 否 采购人名称 深圳大学 采购方式 非协议采购 财政预算限额(元) 2100000 项目背景 深能级瞬态谱仪项目是( 高水平大学 ) 设备主要用途是:深能级杂质产生的施主能级距离导带底较远,受主能级距离价带顶较远。深能级杂质可多次电离,在禁带中引入多个能级,有些既能引入施主能级又能引入受主能级。相对浅能级而言,深能级对载流子的贡献较小,但对非平衡载流子的符合作用很强。由某些微量杂质(如硼、铝、铜等)形成的等电子杂质与基材电负性的差异,能俘获载流子,成为带电中心,形成等电子陷阱,造成点缺陷(空位)、线缺陷(位错)、面缺陷(层错)。缺陷可产生附加势场,改变晶体晶格原有势场,使电子或空穴束缚在缺陷周围,产生局域化的电子态,从而在禁带中引入相应的缺陷能级。铜、镍、铍、锌、铝等杂质以及其他晶格缺陷, 在禁带中引入深能级, 它们起复合中心的作用, 严重影响到探测器的分辨率, 尤以铜、铝的影响最大。氢、碳、硅等中性杂质及其络合物也是一些俘获中心,必须降低其含量。深能级瞬态谱仪可以为解决这些难题提供关键的技术支撑。 该设备项目预算为210万元。 投标人资质要求 投标人”系指响应采购文件要求、参加本次招标采购的供应商。 (1) 投标人必须是来自中华人民共和国或是与中华人民共和国有正常贸易往来的国家或地区(以下简称“合格来源国/地区”)的法人或其他组织,在法律上和财务上独立、合法运作并独立于招标人和招标机构,具有相关经营范围,有资格和能力提供本采购项目的货物及服务的制造商或代理商(或经销商)。须提供营业执照或企业注册证明复印件(经营范围必须涵盖本次招标货物,加盖公章)。深圳大学是科教仪器设备减免税单位,如果是境外供货,投标人应有境外供货与外币结算资格或者是取得了境外供货贸易商的投标授权。 若投标人按照合同提供的货物不是投标人自己制造的,投标人应得到货物制造商同意其在本次投标中提供该货物的正式授权书原件或是合法代理商(若投标人为合法代理商应出具有效代理证明扫描件,制造商除外)。 (2)证明投标人已具备履行合同所需的财务、技术和生产能力的文件。 (3)投标人须提供设备在国内的销售业绩表、合同复印件或中标通知书复印件(表中应列出设备的出厂日期、用户名称、地址、联系人及联系方式等) (4)参与国际招标的投标人必须在中国国际招标网www.chinabidding.com 注册成为会员,具有深圳市政府采购注册供应商资格。 2)参与政府采购项目投标的供应商近三年内无行贿犯罪记录(由采购中心定期向市人民检察院申请对政府采购供应商库中注册有效的供应商进行集中查询,投标文件中无需提供证明材料); 货物清单 序号 采购计划编号 货物名称 数量 单位 备注 财政预算限额(元) 1 PLAN-2016-023001-000006 深能级瞬态谱仪 1.0 套 国际招标 2100000.0 具体技术要求 1.采购货物配置功能要求,各设备的主要技术参数、性能规格 技术指标: 1. 可提供的DLTS模式: 电容模式(C-DLTS) ,恒定电容模式(CC-DLTS),电流模式(I-DLTS),电荷模式(Q-DLTS),FET模式(FET DLTS,第二电压源测试3端器件),瞬态差异模式(DD-DLTS),等温瞬态谱(ITS,Isothermal Transient Spectroscopy),光致瞬态谱(PICS),俘获面模式(Capture DLTS),拉普拉斯模式(Laplas DLTS),表面态分析模式(MIS-NSS DTLS, surface states density measurement),Zerbst 模式(MIS Zerbst DLTS, Minorier generation/lifetime measurement),C-V, I-V,C-t, I-t测试。 2. 评价模式: 2.1 配备28种耦合方式,包括传统的Boxcar和Lock-in方式在内,只需要一次变温过程,就可以得到28组数据曲线,并得到最多28个Arrhenius数据点 2.2 单个温度点可设定多达18种不同测试参数序列(如偏压,脉冲电压,脉冲宽度,脉冲模式等),只需要一次变温过程,即可得到不同参数不同关联函数的测试曲线 2.3 傅里叶方式,直接时间常数评价 2.4 拉普拉斯评价,反向拉普拉斯变换,用于评价单个或多个瞬态谱中的时间常数 2.5 高能量解析模式,使用特殊数学公式对强overlapping温度扫描或等温信号进行分析. 3. 软件功能: 3.1 C/V,I/V和C/t测试 1.浅能级掺杂浓度测试,2.势垒高度,3.理想参数 (n- factor) (shottky 二极管),4.氧化物电容 (MIS 电容),5.Zerbst 分析 (MIS),6.单瞬态曲线分析,7.傅里叶变换,拉普拉斯变换, 多指数瞬态拟合分析,8.FET分析,参数设定I/V曲线,3D曲线 3.2 DLTS(温度扫描测试) 1.常规测试参数设定补偿,2.测试参数用户可自定义并保存,3.直接调用用户存储的参数进行测试,4.同一个温度扫描可执行8种不同测试任务,5.自动与手动模式Arrhenius 曲线分析,6.在温度扫描测试当中,自动进行 I/V C/V 测量,7.缺陷浓度扫描,8.在每个温度扫描中测试C(T)参数,9.能量曲线,10.使用DLTS 算法进行温度扫描拟合,11.可使用24种不同耦合函数分析Arrhenius 曲线,12.可在DLTS温度扫描前自动进行测试应用 CR(T) ,CP(T)或C/V(T) 数据修正Ns(T) 4. 硬件指标: 4.1 脉冲发生器:电压范围涵盖 n;100 V ( n;0.3m V ) ;脉冲宽度涵盖:1 s - 1000 s 4.2 电容测量:高频信号涵盖1 MHz 4.3 电容补偿范围涵盖 1pF- 3300pFF 4.4 HF频率: 1MHz ;HF信号: 100mV 4.5 电容测试范围[pF] 涵盖: 2pF, 20pF,200pF,2000pF (手动或自动) ;电容测试灵敏度: 0.01 fF 4.6 电流放大器:最大测试电流可以达到15mA ;电流分辨率 10 pA 4.7 数字瞬态记录器:最大采样可以达到: 64000 data points ;采样间隔能满足: 2 s - 4s 4.8 可支持温度范围涵盖:15K - 450K 4.9 电阻率与表面电阻测试范围涵盖:0.5mOhm.cm~1Mohm.cm , 5.0mOhm/sq~10.0Mohm/sq 4.10 电阻率与表面电阻测试重复性好于或等于 n;1.5% (CV值,典型值) 4.11 电阻率与表面电阻的77K样品台:适合晶棒样品尺寸50cm*4 与20cm*4 及以上径向测试 4.12 观察待测试材料缺陷的金相显微镜:放大倍率 1000X 商务需求 序号 目录 招标商务需求 (一)免费保修期内售后服务要求 1 免费保修期 安装:仪器制造厂授权的技术人员现场安装调试,仪器技术指标经验收合格,附验收报告。 要求由仪器制造厂提供 1 年以上免费保修服务。软件终身免费升级。保修期后继续支持维修,并按成本价标准收取维修及零件费用。 质保期内,供方将向需方提供优质的售后技术支持服务,开通热线电话接受需方的电话技术咨询,如故障不能排除,供方应在 1~2 日内提供现场服务,待产品运行正常后撤离现场。 2 维修响应... 查看详情

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