理学发布XES Chimica

X射线发射光谱(XES)是一种化学状态分析方法，通过测量具有高能量分辨率的荧光X射线，可以显示化合物成键状态分布的变化。常规X射线荧光设备并不能分辨价态，主要是由于能量分辨率不足，通常不足以辨别价态变化引起的能级位移。

如上图的Na₂S₂O₃在荧光X射线分析中表现为单一峰。XES可以获得反映化合物中以1:1的比例包含的S的-2价、+6价和α1、α2电子配位的微细结构。

XES侧重于探测材料中原子或离子的电子结构信息，如价态、配位环境及局部结构等。这种深层次的表征能力对于新能源材料中关键元素（如电极材料中的金属离子及氧化态）的研究至关重要，从而帮助研究人员理解材料在充放电、老化和反应过程中的细微变化，为新能源材料的表征提供了新的视角。

本期内容就到这里，下期我们将介绍理学Chimica仪器在锂离子充放电过程中的电极材料的价态变化。