Webinar丨利用掠入射 X 射线散射揭示薄膜中的纳米结构

掠入射小角 X 射线散射 (GISAXS) 已成为研究薄膜和表面纳米结构的强大工具。许多材料通过纳米尺度的自组装形成结构，并在这方面引起了极大的关注。值得注意的例子包括用于有机电子器件的共轭聚合物和分子。这些材料的层间距范围为 1 纳米到约 100 纳米。这些体系具有多种应用，包括柔性消费电子产品、医疗传感器等。这使得它们成为工业涂层和印刷工艺中备受追捧的材料。

掠入射小角 X 射线散射 (GISAXS)是基于 X 射线在空气-材料界面处的全外反射原理对薄膜进行分析的。这种现象限制了 X 射线对样品的穿透，从而可以精确地检测表面和接近表面的特征。只需调整入射角，就可以精确地控制穿透深度，使研究人员能够选择性地探测薄膜的特定层。

在本次网络研讨会中，您将了解 GISAXS 方法的基本原理和相关应用。此外，您还将了解安东帕的 SAXS 和 GISAXS 产品组合。

研讨会主要内容：

• 掠入射 X 射线散射的物理原理和基础

• GISAXS实验中使用的组件

• 数据解释基础

• 如何优化实验

• 应用实例