网络课堂 | 牛津仪器NA-TKD如何重塑纳米材料表征极限？

在材料科学的微观世界，每一次成像分辨能力的提升，都意味着一个全新未知领域的开启。当常规EBSD分析无法满足研究人员对50 nm以下精细结构的表征需求时，透射菊池衍射（TKD）技术应运而生，成为探索微观世界的利器。

如今，牛津仪器推出近轴TKD（NA-TKD）解决方案，重新定义了晶体学分析的无限可能。NA-TKD通过与CMOS-EBSD探测器兼容的专用磷屏，引入了全新的几何结构，使磷屏无需直接暴露在透射束之下，同时降低了花样畸变程度。

NA-TKD不仅保留了传统离轴TKD的所有优势，还将SEM下晶体学分析能力推向了新的高度——空间分辨能力提升至优于5 nm、探测灵敏度提高一个数量级，使研究人员能够在更低的束流下，更快、更准确地获得材料中的纳米尺度特征。