告别单一分析局限！两大技术解锁材料表征新维度 | 全球直播回放（配中英字幕）

在材料表征领域，微区X射线荧光光谱（XRF）与扫描电镜能谱（SEM-EDS）是两大核心元素分析技术，广泛应用于冶金、建材、电子、考古等行业的成分定性定量、微区分布及结构关联研究，为材料研发与质量管控提供关键数据支撑。然而，多数研究者对两种技术的分析深度、空间分辨率、样品适用性及检出限差异等认知模糊，导致技术选型偏差，易造成分析结果片面化，无法精准揭示材料内在特性，制约研究与生产效率。

本讲座聚焦这一行业痛点，先系统拆解 XRF 与 SEM-EDS 的技术原理及核心性能参数，再结合炼钢耐火材料损毁机制分析、外墙砖泛白（泛碱）失效检测两大典型工程案例，深度剖析测试条件、样品制备、分辨率匹配度等关键因素对检测结果的影响，助力研究者科学选型或构建组合测试方案，实现材料表征的精准化与全面化。