您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
TESCAN综合矿物分析仪(TIMA)是一款新型的自动矿物分析的扫描电子显微镜,适用于采矿和矿物加工行业。TIMA可以对块状、薄片或抛光切片样品进行自动矿产丰度分析、粒度解离分析、矿物组合分析和颗粒尺寸分析。
TIMA的应用范围很宽,包括矿石性质、工艺优化、修复、贵金属和稀土的寻找等。TESCAN的独特技术是基于一个完全集成的EDX系统执行快速的全光谱扫描。 SEM与EDX硬件的一体化技术提供了前所未有的数据采集速度,进而得到快速、准确和可靠的结果。
TESCAN TIMA基于MIRA肖特基场发射或者VEGA钨灯丝扫描电子显微镜。MIRA镜筒的特殊设计(电子枪的恒真空与隔绝阀)提高了发射的稳定性和钨灯丝的使用寿命。该系统提供高真空模式为标准,低真空模式为选配。
大 样品室、由计算机控制的超快样品台、矿物样品支持器的特殊设计。样品台可以同时容纳7块直径zei大为30mm的样品。样品台内可放入直径25 mm至32 mm的样品。样品台有EDX/BSE校准标准、铂Faraday筒(BSE信号校准)与锰、 铜、 石英、碳和金元素(系统性能检查)。标准校准的元素可以根据客户要求定制。
配件:
二次电子探头
背散射电子探头
探针电流测量
压差式防碰撞报警装置
可观察样品室内部的红外线摄像头等,各种配件可供选择
TESCAN TIMA-X FEG 超大样品室矿物分析仪系统,TIMA-X FEG
TESCAN TIMA-X FEG 超大样品室矿物分析仪系统信息由TESCAN(中国)为您提供,如您想了解更多关于TESCAN TIMA-X FEG 超大样品室矿物分析仪系统报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
泰思肯 TESCAN MIRA 场发射扫描电镜 创新的光学设计
泰思肯 TESCAN MIRA 场发射扫描电镜 失效分析
泰思肯 TESCAN MIRA 场发射扫描电镜 质量控制
泰思肯 TESCAN MIRA 场发射扫描电镜 实时元素分析
泰思肯 TESCAN MIRA 场发射扫描电镜 用于半导体分析
TESCAN TIMA-X FEG 集成矿物分析仪 稀土寻找
TESCAN TIMA-X FEG 集成矿物分析仪 贵金属寻找
TESCAN TIMA-X FEG 集成矿物分析仪 矿石工艺优化
18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 扫描电子显微镜 用于扫描电子显微镜(TIFF/SEM)的标记图像文件格式
SY/T 5162-2014 岩石样品扫描电子显微镜分析方法
SY/T 5162-1997 岩石样品扫描电子显微镜分析方法
GB/T 33834-2017 微束分析 扫描电子显微术 生物试样扫描电子显微镜分析方法
SY/T 5162-2021 岩石样品扫描电子显微镜分析方法
SY 5162-2014 岩石样品扫描电子显微镜分析方法
GB/T 17361-2013 微束分析 沉积岩中自生粘土矿物鉴定 扫描电子显微镜及能谱仪方法
GB/T 18295-2001 油气储层砂岩样品 扫描电子显微镜分析方法
GB/T 27788-2020 微束分析 扫描电镜 图像放大倍率校准导则
GB/T 19267.6-2008 刑事技术微量物证的理化检验 第6部分:扫描电子显微镜/X射线能谱法
T/CSCP 0035.17-2017 低合金结构钢实验室腐蚀试验 第17部分:低合金结构钢腐蚀产物分析方法
GB/T 17362-1998 黄金饰品的扫描电镜X射线能谱分析方法
GB/T 17362-2008 黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法
ISO 21466:2019 微束分析.扫描电子显微镜.用CD-SEM评定临界尺寸的方法
GB/T 17359-1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则
ASTM F1372-93(2012) 气体分配系统组件用金属表面状态的扫描式电子显微镜 (SEM) 分析的标准试验方法
GB/T 28894-2012 表面化学分析.分析前样品的处理
ASTM F1372-93(2005) 气体分配系统组件用金属表面状态的扫描式电子显微镜(SEM)分析的标准试验方法
618色谱耗材精品课程——蛋白质组学前沿研究分享
离子淌度技术在组学中的应用
细胞说|多维组学与能量代谢技术主题研讨会
ASMS 2024布鲁克新品推介会
TESCAN CLARA 超高分辨场发射扫描电镜
TESCAN MAGNA 超高分辨场发射扫描电镜
泰思肯 拉曼光谱-扫描电镜一体化系统RISE
TESCAN 超大样品室钨灯丝扫描电镜 TESCAN VEGA
TESCAN 钨灯丝扫描电镜 TESCAN VEGA COMPACT
泰思肯 TESCAN MIRA 场发射扫描电镜
大新闻 | 加强电子显微镜与显微CT业务布局,TESCAN集团在韩国完成战略并购
转发:上海交通大学李林森团队&德克萨斯大学奥斯汀分校刘宜晋团队EES发文:多尺度相关成像揭示快速充电电池中的顺序性和不均匀性退化
直播 | 氙离子PFIB-SEM赋能纳米级分析毫米级页岩,且快且细
直播 | 探索前沿半导体器件的PFIB自动化大面积逐层剥离和原位纳米探针技术
眼见为实 | 扫描透射电镜也可以轻松定位样品和快速BF/DF成像
在100kV下 TESCAN TENSOR 对厚密样本的 4D-STEM 分析
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号