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[ 产品简介 ]
蔡司新一代场发射扫描电子显微镜Sigma系列,具有高质量的成像和分析能力,将先进的场发射扫描电子显微镜技术与优秀的用户体验完美结合。利用Sigma系列直观的4步工作流程,在更短的时间内获得更多的数据,提高测试与生产效率。可选配多种探测器,以满足半导体、能源等新材料、磁性样品、生物样品、地质样品等不同的应用需求。结合蔡司原位电镜实验平台,可以实现自动智能化的原位实验工作流程,高效率获取高通量、高质量的原位实验数据。领先的EDS几何设计保证了出色的元素分析性能,分析速度高、精度好、结果可靠。高分辨、全分析、多扩展、强智能、广应用,全新Sigma系列是助力于材料研究、生命科学和工业检测等领域的“多面手”。
[ 产品特点 ]
ü 独特的Gemini镜筒设计,低电压高分辨,无漏磁
ü 广泛全面的应用场景
ü 丰富灵活的探测手段
ü 智能高效的工作流程
ü 先进可靠的分析系统
ü 强大完善的扩展平台
[ 应用领域 ]
ü 材料科学,如纳米材料高分辨成像,高分子聚合物等不导电样品成像,电池材料成分衬度成像,二维材料分析
ü 生命科学,如生物样品超微结构成像,冷冻样品高分辨成像
ü 地质矿物学,如地质样品高分辨成像、成分分析以及原位拉曼联用分析
ü 工业应用,如组件失效分析,工艺诊断
ü 电子半导体行业,如质量控制与分析,6英寸Wafer快速换样,电子束曝光技术(EBL)
ü 钢铁行业,如夹杂物分析,金属材料自动原位成像分析
ü 刑侦、法医学
考古学、文物保护与修复
aBSD探测器超导合金成像
InLens SE探测器氧化锆&氧化铁复合材料成像
ETSE探测器氧化锌枝晶成像
Sense BSD探测器刺毛苔藓虫超微结构成像
氧化铝颗粒高分辨二次电子成像
NanoVP lite模式下断裂的聚苯乙烯表面成像
蔡司场发射扫描电子显微镜 Sigma系列,Sigma
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BH GSO ISO 22493:2017 微束分析 扫描电子显微镜 词汇
GSO ISO 22493:2015 微束分析 扫描电子显微镜 词汇
KS D ISO 22493-2022 微束分析.扫描电子显微镜.词汇
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ISO/TS 21383:2021 微束分析.扫描电子显微镜.定量测量用扫描电子显微镜的鉴定
JJG(教委) 11-1992 扫描电子显微镜检定规程
JB/T 5384-1991 扫描电子显微镜.技术条件
JB/T 6842-1993 扫描电子显微镜试验方法
JJF 1916-2021 扫描电子显微镜校准规范
ISO 21466:2019 微束分析.扫描电子显微镜.用CD-SEM评定临界尺寸的方法
中国科学院昆明植物研究所
天津工业大学
国家铜铝冶炼及加工产品质量监督检验中心
中国科学院深圳先进技术研究院
苏州市计量测试院
浙江省质量检测科学研究院
杭州电子科技大学
中国地质大学(武汉)
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