伯锐锶高通量（场发射）扫描电子显微镜 SEMNova-1000

伯锐锶高通量（场发射）扫描电子显微镜 SEMNova-1000

专为跨尺度大规模样品SEM表征分析而设计，广泛应用于科研及工业等领域。其自动化超高速的纳米成像技术，为您提供超凡的成像体验。

SEMNova-1000高通量（场发射）扫描电子显微镜产品介绍

伯锐锶独立研发并拥有自主知识产权的SEMNova-1000高通量（场发射）扫描电子显微镜，通过对成像技术、运动平台、电路控制及智能算法的系统化创新设计，实现了高通量成像，成像速度可达到传统电镜的数十倍以上。其全部采用直接电子探测器的技术方案，成功克服了传统SEM技术在速度、精度和样品损伤等方面的局限性，颠覆性地将扫描电镜从传统意义上的纳米“照相机”提升为纳米“摄像机”。同时操作简单，全自动一键换样，7*24小时无人值守运行，全面提升科研效率。

我们将成熟的工业化高通量电镜检测技术应用在生命科学、材料研究、半导体工业、地质资源等领域。尤其在神经生物学3D重构、材料大面积表征分析、半导体反向工程、纳米技术分析等应用领域有显著优势。

SEMNova-1000高通量（场发射）扫描电子显微镜产品优势

● 综合成像速度＞10倍传统电镜

● 二次电子与背散射电子双通道同步成像

● 海量SEM图像快速生成数据分析报告

● 从百毫米到纳米级的跨尺度材料表征

产品特点

1、极速成像

● 通过自主研发的硬件和软件设计，实现二次电子与背散射电子双通道同步成像：视频级高分辨成像；

● 高清视频级摄像帧率，使其具有实时观测样品动态变化的能力；

2、高成像质量

● 独特的浸没式电磁复合物镜系统，有效地减小低落点能量下物镜的象差，达到极高分辨能力；

● 与物镜场复合的静电式扫描偏转系统，相比于传统电镜的磁偏转系统，极大地减小图像边沿畸变，可获得兼具高分辨率和大视野的完美图像；

● In-Lens SE与BSE半导体直接电子探测器，双通道同时高速成像，兼具高灵敏度和高信号电子收集效率，即使在nA级别的大束流条件仍可获得高图像衬度和信噪比；

● 配备主动补偿系统（激光干涉振动补偿、电磁干扰主动补偿），消除环境因素干扰，保证成像高分辨率高质量；

3、跨尺度大规模成像

● 超高速扫描成像能力，结合全自动聚焦跟踪系统和A.I.图像处理算法，实现对超大区域样品进行高分辨率全自动不间断矩阵式扫描，并自动拼接获得大尺寸纳米级分辨率的全景地图式成像，使之具备了跨尺度信息融合能力，可实现从纳米级到毫米级的跨尺度材料表征；

4、智能分析

● 大数据智能分析 ，海量SEM图像快速生成数据分析报告；

● 智能图像处理，定制化图像测量、统计、分析；

5、操作简单

● 全自动样品载入与导航，一键完成样品更换，操作便捷，节省工时。大场光学成像导航与SEM成像无缝衔接，对指定区域快速准确实现定位和观测；

● 7*24小时全自动化无人值守运行能力；

伯锐锶高通量（场发射）扫描电子显微镜 SEMNova-1000参数

注:

①:选配非浸没式电磁透镜，可观测铁磁性材料;*2):选配0~30kV电子枪;

③:选配100nA;

④:可选配激光干涉仪。

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