TESCAN CLARA 超高分辨场发射扫描电子显微镜（SEM）

TESCAN CLARA 超高分辨场发射扫描电子显微镜（SEM），前所未有的材料表征能力

CLARA 是一款应用广泛的多功能扫描电子显微镜，是基于成功的S8000 基础上进一步研发的，其设计更能满足材料科学的需求，适用于对各种不同类型材料的分析和表征。 

CLARA 的分辨率可以达到亚纳米级别，能够揭示材料最细微的结构。 TESCAN 独特的 Wide Field Opticls™ 技术帮助您在大视野下全方面了解样品的构成（最小放大倍数可至2倍），从而快速定位感兴趣的区域。

TESCAN CLARA 在低电压下仍保持了出色的分辨率，因而不仅适用于样品极表面进行形貌观察，同时也是表征光敏样品和非导电样品的理想选择。 TESCAN CLARA ，不仅在低电压下拥有极佳的分辨率，而且能够通过选择二次电子和背散射电子的不同衬度，来探索样品可能包含的大量信息，因而是分析测试中心或材料科学研究实验室的最佳选择。

新一代的电子光学和成像技术使 CLARA 成为任何分析测试中心，材料表征实验室或工业检测实验室必不可少的设备。直观，模块化的用户界面可根据每个操作员的需求进行定制，可以有效的提高工作效率。预设程序和最佳成像条件可以帮助新手用户轻松获得高质量的图像，并尽可能协助其完成能力范围内可操作的高端功能。

基于S8000 平台进一步研发的TESCAN CLARA

主要特点

独特的镜筒内 BSE 探测器设计可以根据能量和角度不同选择信号
镜筒内 BSE 探测器所安装的特殊位置使得它可以同时采集不同 “出射”角度的背散射电子（BSE）。 Axial BSE 探测器收集近轴背散射电子信号，而 Multidetector（BSE）则收集中角背散射电子信号， 这两个信号是明显不同的。 通过 Axial BSE 探测器我们可以抑制不希望看到的由于样品的表面形貌引起的干扰，从而观察到最佳的材料成分衬度。 相比之下，Multidetector（BSE）收集中角背散射电子，获得既有成分衬度又有形貌衬度的图像，但更凸显表面形貌的特点。 Multidetector 配有一个能量过滤器，可以实现二次电子信号和背散射电子信号的能量过滤，以便增强背散射电子的衬度。

电子束敏感样品和非导电样品的理想选择
完美的镜筒和探测器系统的一体设计，无需施加样品减速偏压，即可实现电子束 50 eV 的低着陆能量，避免了样品产生损伤和荷电效应，并实现出色的成像性能，是观察各种不导电样品的理想选择。

电子束的快速设置 – 实现最佳的成像和分析条件
EquiPower™ 透镜技术可实现高效的散热并保证电子镜筒的稳定性。同时结合使用了实时电子束实时优化技术，使 TESCAN CLARA 能够在全部束流范围下获得优异的高分辨率图像和（EDS / EBSD）分析能力。

无需光学导航相机，利用低倍率实时SEM图像实现直观、精确的导航
独特的 Wide Field Optics™ 技术以及双物镜的设计，实现不失真的大视场观察并具有多种成像模式。 成像模式间的切换和高、低倍图像的切换仅需一次鼠标点击即可获得。

无漏磁超高分辨透镜，低电压下实现材料表面形貌细节的高灵敏表征
BrightBeam™ 镜筒实现无漏磁超高分辨率成像能力，对包括磁性样品在内的各类样品具有广泛的适用能力。

模块化Essence™ 软件，直观易用，不同技术水平的用户，均可轻松操作
TESCAN Essence™ 软件使操作电镜变得前所未有的简单， 简化且符合用户习惯的操作界面大大提升了工作效率。 操作人员可以通过简单的搜索就可以轻松访问所有功能模块，并可将功能模块拖放到显示屏上。 此外，任何等级的操作员都可以轻松地将电镜的设置恢复为之前的条件或导航到之前的区域。 先进的实时3D碰撞模型可防止样品移动过程中可能发生的危险动作。

材料科学

生命科学

地球科学

TESCAN CLARA 是一款适用性非常广泛的扫描电子显微镜，能够满足各个科研和技术领域对不同材料进行高质量成像和表征的需求。TESCAN CLARA 使用了 TESCAN BrightBeam™ 型 SEM 镜筒，该镜筒配置了可变比例式静电-电磁复合物镜，可以在低加速电压下实现无漏磁超高分辨成像，这对于包括磁性样品在内的各类样品具有广泛的适用能力。

主要特点：

• 新一代镜筒内电子加速、减速技术，保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力

• 首次配置的静电-电磁复合物镜，物镜无磁场外泄，实现磁性样品高分辨成像及分析

• 配置4个新一代探测器，可实现9种图像观测，对样品信息的采集更加全面

• 配置大型样品室，有超过20个扩展接口，为原位观测、分析创造了良好的工作环境

• 可以配置 TESCAN 自有或第三方的多种扩展分析附件，如EDS、EBSD、CL、EBL 以及实现与Raman联用

• 模块化 Essence™  软件，直观易用，不同技术水平的用户，均可轻松操作。

  
  

独特的探测器系统

独特的镜筒内探测器系统，可以根据能量和角度的不同选择信号进行采集，获得最全面的形貌和成分信息。Multidetector  探测器配有能量过滤器，可以实现二次电子信号和背散射电子信号的过滤以便增强材料衬度以及提高表面灵敏度，并能够实现二次电子和背散射电子信号之间的实时切换。第二个镜筒内探测器 — 轴向探测器（Axial detector），能以最大效率在任何着陆电压下收集二次电子和背散射电子信号，且不会有明显的信号损失，这样即使在低着陆电压下也能够非常简单的进行超高分辨二次电子成像。

TESCAN CLARA 使用了实时电子束追踪技术(In Flight Beam Tracing™)和中间镜技术(Intermediate Lens™)，可以广泛适用于各类分析研究。TESCAN CLARA 能够在高束流下（最大可达400 nA）仍然保持高分辨成像，这点对于日常分析工作而言非常便利。TESCAN CLARA 是一款真正的多功能分析仪器，适用于纳米材料的表征，高端制造业的严格质控，以及各类研发工作。

软件：

·         测量软件, 公差测量软件

·         图像处理

·         预设参数

·         直方图及LUT

·         SharkSEM™ 基础版 (远程控制)

·         3D 防碰撞模型软件

·         对象区域

·         光电联用

·          定时关机

·         CORAL™（用于生命科学的电镜模块）

·         自动拼图软件

·         样品观察

·         TESCAN Flow™ (离线处理软件)

根据实际配置和需求

TESCAN CLARA 超高分辨场发射扫描电子显微镜（SEM）信息由TESCAN 泰思肯（中国）为您提供，如您想了解更多关于TESCAN CLARA 超高分辨场发射扫描电子显微镜（SEM）报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。