白光干涉仪 普瑞精仪
STELLARIS白光激光器在为多色实验选择荧光探针时，您无需做出妥协。 现在，您可以超越传统激发源，摆脱在荧光团选择和多元成像能力方面的限制。扩展多色能力。更少妥协。STELLARIS新一代白光激光器（WLL）与我们提供的Power HyD探测器系列中最佳匹配的探测器相结合，使您可自由选择所有光谱，并准确组合适当的探针来解答您的实验问题。 WLL与我们自有......
Xper WLI 白光干涉仪 Xper WLI 白光干涉仪Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量......
德国BMT WLI白光干涉仪 采用ACM 600 共焦显微镜可对物体的表面和结构进行非接触式的测量，评估和显示。装配不同的显微物镜，测量视场大小和精度也不同。视场的扩展可通过钉合的方式来实现。 ......
WLI LA 白光干涉仪 本仪器比以往的显微镜可测面积大得多，使用者需在大测量面积和大数值孔径之间进行适当平衡。数值孔径决定了横向分辨率和可测量的微观/宏观表面倾斜程度。选择大约1.5 cm²的测量面积代表了zei适宜的平衡点。干涉仪可测量大的测量面积使其用来主要进行平面度测量，而对于微观结构则会获取太多无......
白光干涉仪概述Rtec 白光干涉仪在加利福尼亚硅谷制造。已被多个知名实验室、大学和行业使用。UP系列在一个头上组合了4种成像模式。能够在同一测试平台上运行多种测试，只需单击按钮，就能转换成像模式。这种组合可以轻松地对任何表面进行成像如透明、平坦、黑暗、扁平、弯曲的表面等。每种成像模式都具有各自的优势，并且各项技术彼此互补。该项整合技术不仅有利于数据的综合分析......
WLI测量系统是为准确测量表面轮廓、粗糙度、台阶高度、微观结构和其它表面参数而设计，可满足电子、汽车、制造工业的使用需求。扩展的显微镜模式能使用户获得具有以下特点的3D图像，对图像缩放、钉合、标记无效值、选择视场等操作。 测量和评估软件可自动测量，用户可......
稳定的结构设计以及高度的集成化使得Polaris能够胜任在生产线及严苛的工业环境。Polaris专注于快速准确测量。Polaris白光干涉仪支持多种3D传感器，适用于各种类型的材料表面测量，包括高反光和倾斜的材料表面。强大的软件既能满足产线灵活的自动化重复检测需求，又能针对实验室的各种不同要求进行单独配置。令人难以想象的快速3D检测技术让Polaris在价格......
