白光干涉仪 测量原理
Xper WLI 白光干涉仪 Xper WLI 白光干涉仪Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量......
皮米级绝对距离测量干涉仪（独家） 皮米级绝对距离测量干涉仪（可试用） 昊量光电推出的皮米级绝对距离干涉测量仪quDIS是目前市面上同类别独特可以测量皮米级绝对距离的干涉仪。基于其独特的测量原理，相对距离......
稳定的结构设计以及高度的集成化使得Polaris能够胜任在生产线及严苛的工业环境。Polaris专注于快速准确测量。Polaris白光干涉仪支持多种3D传感器，适用于各种类型的材料表面测量，包括高反光和倾斜的材料表面。强大的软件既能满足产线灵活的自动化重复检测需求，又能针对实验室的各种不同要求进行单独配置。令人难以想象的快速3D检测技术让Polaris在价格......
三维光学显微镜布鲁克是三维表面测量与观察领域的领导者，提供从微观的MEMS（微机电系统）到宏观的发动机腔体等不同大小样品的快速非接触式分析。三维显微镜经历了十代的发展，在原有Wyko®专有技术基础上不断创新，以确保在各种应用环境中能够精确进行三维测量所需的高灵敏度和稳定性。布鲁克三维光学显微系统以其出色的性能稳定性而闻名，得到了业界的高度赞誉。数以千计的系统......
F54-XY-200薄膜厚度测量仪能够利用先进的光谱反射系统，快速、轻松地测量大尺寸200x200mm样品的薄膜厚度。电动XY工作台可以自动移动到选择的测量点，并提供每秒两点的快速厚度测量。您可以从数十种预定义的极性、矩形或线性测量坐标图案中进行选择，也可以创建自己不受限制的测量点。这个桌面系统的设置只需几分钟，任何具有基本计算机技能的人都可以使用。F54-......
F54-XY-200薄膜厚度测量仪是一种自动薄膜厚度测绘系统。它采用先进的光谱反射系统，能够快速、轻松地测量大200x200mm样品的薄膜厚度。配备电动XY工作台，可自动移动到选定的测量点，并提供每秒两点的快速厚度测量。用户可以从数十种预定义的极性、矩形或线性测量坐标图案中进行选择，也可以创建自己编辑的不受限制的测量点数量。该桌面系统只需几分钟即可完成设置，......