白光干涉仪器
一、用途 （1）二、三维表面形貌测量 （2）膜厚和台阶测量 （3）刻线和沟槽尺寸测量 （4）任意曲面形貌测量 （5）球面和非球面轮廓非接触测量 （6）MEMS器件三维尺寸测量 （7）微光学元件测量 二、仪器构成 （1）宽带光干涉显微镜 （2）垂直位移扫描工作台 （3）摄像及图像处理系统 （4）工控机 三、测量原理 ......
仪器的原理，主要构成与特点与WIVS-I型 基本相同，其区别如下： 1 、干涉显微镜为自主设计，具有4x、10x、20x、40x、60x、100x等显微镜组，用户可根据测量视场范围及横向分辨率的要求挑选。而WIVS—I型由于是6JA干涉显微镜改造而来，其物镜是固定的，为40x。因此WIVS-II型干涉显微镜的测量视场扩大了，显微镜......
Quantum Design 公司拥有的高对称性 SQUID 设计以及完善的系统可以提供当前较为耐用和的超薄膜探测器, 可以满足客户进行配置各种功能强大的设备的需要。这些探测器可以容耐诸如温度场的反复等各种苛刻的实验环境，具有出色的可重复性和实验环境适应性, 正因为这样，Quantum Design 公司设计生产的SQUID 长期以来在国际上具有......
Leica DCM8 白光共焦干涉/光学表面测量系统产品规格下载Leica DCM8采用了最新的非接触式三维光学表面测量技术。设计用于提高您的工作效率，它是一款融合了高清晰度共聚焦显微镜和干涉测量技术优点的多功能双核系统。一键模式选择，精密软件、无移动部件的高分辨率共聚焦扫描技术确保用户实现超快速的分析操作。 可通过各种规格的徕卡物镜、电动载物台和镜筒来对系......
产品创新点上市时间：2019年3月(1)高测量性能 ，垂直方向分辨率高，重现性好，测量速度快，测量视野广，无损伤测量(2)易于使用的操作界面(3)ISO 25178参数对比工具(4)硬件全面升级产品简介 日立高新技术科学公司于2019年3月起，在中国开始销售利用光干涉原理进行非接触式无损伤三维表面形态测量的纳米尺度3D光学干涉测量系统“VS1800”，该......
Xper WLI 白光干涉仪 Xper WLI 白光干涉仪Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量......
徕卡图像分析Leica DCM8用于测定半导体、纤维、金属、锂电池等，符合行业标准徕卡显微系统 圆派科学。适用半导体、纤维、金属、锂电池等项目。 超景深显微镜LEICA DVM6下的不同世界，带你领略显微镜下之美 Leica DCM8 白光共焦干涉/光学表面测量系统产品规格下载Leica DCM8采用了最新的非接触式三维光学表面测量技术。设计用于提高您的工作......
产品型号：SuperView WX 100 产品名称：白光干涉测头 主要特点：便携可搭载 一键批量分析 生产企业：深圳市中图仪器股份有限公司 注释：更多详细产品信息，请联系我们获取 详细信息 一、产品简介 SuperView WX 100白光干涉测头是一款非接触式精密光学测头，......