白光干涉轮廓仪

白光共轭焦轮廓仪

参考成交价格: 暂无

轮廓仪/粗糙度仪

型号:Nanofocus μSurf

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 技术参数 Measuring head CX CI Image acquistion module BM 512 Digital camera with progressive- scan technology, up to 25fps, 512 x 512 Pixel, 8bit, Firewire Fast ......

白光干涉3d轮廓仪

参考成交价格: 96万元[人民币]

中图仪器 白光干涉测厚仪

型号:SuperViewW系列

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您是否面临着“材质适配窄、精度不稳定、粗糙度与轮廓度需分机测量、批量检测效率低"等检测难题?中图仪器白光干涉3d轮廓仪(SuperViewW系列)以以0.1nm核心分辨率为突破,结合白光干涉技术与智能化功能,为您提供“高精度、全适配、高效率"的表面形貌测量解决方案。一、解决4大测量痛点二、核心功能精简1.自动化测量:操纵杆集成XYZ轴控制......

白光干涉三维轮廓仪

参考成交价格: 96万元[人民币]

中图仪器 轮廓仪/粗糙度仪

型号:SuperViewW系列

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从半导体晶圆到3C玻璃屏,白光干涉三维轮廓仪如何实现“无损”精准检测?在半导体制造、3C电子加工及光学元件研发等领域,表面粗糙度的微小偏差都可能决定产品的最终性能与良率 。然而,传统的接触式测量往往面临划伤样品、无法测量微观复杂结构的痛点。白光干涉仪(光学3D表面轮廓仪)凭借非接触式测量优势,为您提供覆盖多行业的解决方案:1.半导体领域:针对超光滑硅晶片表面......

SuperViewW系列3D白光干涉轮廓仪基于白光干涉原理,以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。SuperViewW测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细......

SuperViewW白光干涉3D轮廓仪基于白光干涉原理,以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。白光干涉仪的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。SuperViewW白光干涉3D轮廓仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。产品功能1)样件测量能力......

SuperViewW三维白光干涉轮廓仪可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。SuperViewW具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。产......

白光干涉光学轮廓仪厂家

参考成交价格: 96万元[人民币]

中图仪器 其它光学测量仪

型号:SuperViewW系列

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在微纳测量领域,精度就是生命线。SuperView W1系列白光干涉光学轮廓仪厂家,以白光干涉技术为核心,各项指标均达到行业水平。1.重复性:粗糙度RMS重复性可达 0.005nm(依据ISO 25178标准,测量Sa为0.2nm硅晶片)。2.台阶测量精度:准确度达 0.3%,重复性 0.08% (1σ)。3.超高分辨率:Z向扫描范围10mm,形貌重复性ST......

SuperViewW系列白光干涉非接触式轮廓仪利用光学干涉原理研制开发的超精细表面轮廓测量仪器,主要用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。SuperViewW系列产品......

中图仪器SuperViewW粗糙度白光干涉轮廓仪基于白光干涉原理,以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。白光干涉仪的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。SuperViewW具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。产品功能1)样件测量能力:单一扫......

中图仪器SuperViewW超光滑表面白光干涉轮廓仪基于白光干涉原理,以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。白光干涉仪的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。SuperViewW具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。产品功能1)样件测量能力:单......

厂商新闻
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