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ContourGT三维光学显微镜
ContourGT光学显微镜系列
30年技术革新,实现非接触式表面测量技术高峰
ContourGT 系列结合先进的64位多核操作和分析处理软件,专利技术白光干涉仪(WLI)硬件前所未有的操作简易性,推出历年来来最先进的3D光学表面轮廓仪系统。第十代光学表面轮廓仪拥有超大视野内埃级至毫米级的垂直计量范围,样品安装灵活,且具有业界最高的测量重复性。ContourGT系列是当今生产研究和质量控制应用中,最广泛使用和最直观的3D表面计量平台。
业界最高的垂直分辨率,最强大的测量性能
多核处理器下运行的Vision64™ 软件,
大大提高三维表面测量和分析速度
个数据拼接成一张连续的完美图像。
测量硬件的独特设计增强生产环境中的可靠性和重复性
GR&R测量的能力。
高度直观的用户界面,拥有业界最强的
实用性,操作简便和分析功能强大