表面缺陷检测设备

表面视像缺陷检测系统表面视像缺陷检测系统的主要优点:1、技术领先,60MHz高速行扫描CCD技术,每秒可最大扫描14,000次,防止漏验。2、独特的LED光源技术,高亮度,高寿命,低能耗。3、生产统计、趋势功能软件,让生产状况一目了然。4、高级分切管理等功能,帮助优化分切。5、中文界面,从操作到高级设置,方便使用,让您100%完全掌握系统。6、系统可升级扩展......

仪器简介:应用: ◆ 硅片、化合物、半导体及透明材质产品表面缺陷的检查分析。技术参数:KLA-Tencor Candela CS10表面缺陷检测设备是针对半导体行业的表面缺陷的检查分析仪器。该设备利用激光扫描样品的整个表面,通过4个频道(散射光频道、反射光频道、相移频道及Z频道)的探测器所收集到的信号,快速的将缺陷(包括微粒、划伤、坑点、污染、痕迹......

安东帕自动低温变温控制器Cryosync参考多项行业标准安东帕。完成粉体的检测。可以用在化学药行业领域中的比表面积项目。 因为氮气占空气中的比例为78%,其饱和蒸汽压约比当地大气压高10torr。出现以下情况,说明液氮明显不纯: 安东帕正式发布自动低温变温控制器CryosyncTM。这款小巧玲珑的变形金“缸”,可以让用户用廉价易得的液氮(77.4K)代替液氩......

国仪量子 扫描电子显微镜 SEM3200可用于测定光伏电池,适用于表面缺陷和结构形状项目。并且参考多项行业标准太阳能电池绒面的研究。可应用于电子/半导体行业领域。 五分割半导体背散射探测器——多通道成像探测器设计精巧,灵敏度高,采用5分割设计,无需倾斜样品,可获得不同方向的阴影像以及成分分布图像。单通道阴影像成分像能谱LED小灯珠能谱面分析结果。 ......

国仪量子 场发射扫描电镜 SEM5000可以用在航空/航天行业领域,用来检测光伏电池,可完成表面缺陷和结构形状项目。符合多项行业标准太阳能电池绒面的研究。 SEM5000是一款分辨率高、功能丰富的场发射扫描电子显微镜。先进的镜筒设计,高压隧道技术(SuperTunnel)、低像差无漏磁物镜设计,实现了低电压高分辨率成像,同时磁性样品可适用。光学导航、完善的......

1. 子弹外观视觉检测采用数字高速相机对子弹进行360度拍照检测,子弹外观表面缺陷检测内容包括压伤、褶皱、划痕、变形、裂纹、穿孔、凹坑、线痕、传火孔不全、脏污、腐蚀、镀层不良、氧化生锈 2. 气门导管外观视觉检测火花塞外观表面缺陷检测内容包括螺牙不良、瓷提裂纹、破损、电极变形、字符不良、漏装螺帽、脏污、腐蚀、氧化生 3.火花塞外观视觉检测......

一、简介Lumina AT1光学表面缺陷分析仪可对玻璃、半导体及光电子材料进行表面检测。Lumina AT1既能够检测SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料,又能对Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板进行检测,其价格优势使其成为适合于研发/小批量生产过程中品质管理及良率改善的有力工具。 Lumina AT1结合散射测量、椭圆偏光、反射测量与表面斜率等基......

OSIRIS Hot和OSIRIS Cold在一个系统中融合了两种检测功能,用于钢铁及金属行业的先进的在线表面缺陷和轮廓测量系统。OSIRIS测量解决方案可作为轧机和轧线的一部分运行,可以测量高达1100摄氏度下高速通过测量站的各种型材。OSIRIS系统采用最先进的激光技术和高采样率,可对轮廓或长材进行完整的三维重建,检查轮廓形状的尺寸精度,并在单次操作中检......

ONTO缺陷检测

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纳腾 其它光学测量仪

型号:ONTO缺陷检测

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Phenom Pharos G2 —— 性能优越的飞纳台式场发射扫描电镜Phenom Pharos G2 是飞纳推出的台式场发射扫描电镜,可用于半导体表面缺陷观察,帮助分析器件表面、封装材料和微小缺陷形貌。Phenom Pharos G2 采用肖特基热场发射电子枪,电子光学放大倍数可达 2,000,000 X,分辨率优于 1.5 nm,适合对高分辨形貌、精细......

厂商新闻
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