芯片外观缺陷检测设备
安捷伦的ChIP-on-chip是一种功能强大的技术，为下一代微阵列技术的发展提供了坚实的基础。该项技术可对支配遗传表达的转录因子的结合区域进行高分辨率的精确分析。通过纯化染色质免疫共沉淀中的蛋白质－DNA结合物，可以富集DNA并进行标记。通过进行微阵列的杂交反应，可鉴别出蛋白质的结合位置。除了可探明转录因子的结合部位，利用这种技术也可对乙酰化组蛋......
TU-II型暗箱式紫外观察仪主要功能屏蔽杂散光与紫外线照射，便于更好观察薄层色谱板；仪器特点1、便携式设计，坚固耐用，便于移动；2、可以当作拍摄暗箱，加相机即可成为摄影仪；3、加装图像分析软件，即可成为薄层成像系统；主要指标紫外254 nm 与365nm；最大可放置200×200mm的层析板仪器组成便携式观察暗箱，紫外灯； 由于......
脉宽可调纳秒激光器（芯片缺陷检测用） 脉宽可调纳秒激光器（芯片缺陷检测用）脉宽可调纳秒激光器（芯片缺陷检测用）此系列激光器为单模激光器，通过内置从输入的TTL/LVTTL数字信号中产生光脉冲。脉宽可调纳秒激光器（芯片缺陷检测用）脉冲长度从1.5 ns -CW 连续可调，脉冲重频 从单脉冲- 250 MHz可......
1. 子弹外观视觉检测采用数字高速相机对子弹进行360度拍照检测，子弹外观表面缺陷检测内容包括压伤、褶皱、划痕、变形、裂纹、穿孔、凹坑、线痕、传火孔不全、脏污、腐蚀、镀层不良、氧化生锈 2. 气门导管外观视觉检测火花塞外观表面缺陷检测内容包括螺牙不良、瓷提裂纹、破损、电极变形、字符不良、漏装螺帽、脏污、腐蚀、氧化生 3.火花塞外观视觉检测......
Agilent Intuvo 芯片式保护柱可避免切割色谱柱，从而节省时间并提高样品通量。 将保护柱的功能结合到创新的金属微流控芯片。 它在进样口衬管和色谱柱之间提供近 1 米长的惰性流路，以捕集样品残留。通过定期更换保护柱，样品污染永远不会到达 Intuvo 气相色谱柱柱头，因此无需切割色谱柱。Intuvo 芯片式保护柱为一次性消耗品。 为延长......
