表面缺陷测量仪
仪器简介： 仪器名称：ZETA电位分析仪 研究对象：纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。 主要用途：测量材料的表面电荷，了解材料表面上的电荷状况，研究材料表面性能。 主要应用：材料表面改性 材料表面黏附、吸......
主要特点：测量原理 ：在电化学双电流层的模型中，电荷分布形成固定层与可移动层。滑动层将这两层彼此分离。 ZETA 电位指定为在滑动层上固体表面与液相之间电势的衰减。电解质流动的外部力平行应用于固体与液体界面导致固定层与可移动层之间相对运动与电荷分离，由此得出实验的ZETA 电位。 流动电势的大小由液相的流动压差P决定。ZETA 电位即可定义为固体表面的固定层......
研究对象：纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。 主要用途：测量材料的表面电荷，了解材料表面上的电荷状况，研究材料表面性能。 主要应用：材料表面改性 材料表面黏附、吸附、脱附等 &n......
主要用途：测量材料的表面电荷，了解材料表面上的电荷状况，研究材料表面性能。 主要应用：材料表面改性 材料表面黏附、吸附、脱附等 ......
用于测量α，β，γ，X辐射。加窗后，可以测量17KeV-3MeV的γ辐射，还可以区分α，β辐射。多种操作模式，9g氧化镥（50Bq/g,1.4nCi/g）刻度源。 探测器：GM计数管，窗直径44mm，厚度1.8-20mg/cm2测量范围（γ）：RadEye B20：0-2mSv/hRadEye B20-ER：0-100mSv/h测量范围（污染）：R......
用于测量α，β，γ，X辐射。加窗后，可以测量17KeV-3MeV的γ辐射，还可以区分α，β辐射。多种操作模式，9g氧化镥（50Bq/g,1.4nCi/g）刻度源。 探测器：GM计数管，窗直径44mm，厚度1.8-20mg/cm2测量范围（γ）：RadEye B20：0-2mSv/hRadEye B20-ER：0-100mSv/h测量范围（污染）：R......
RadEye AB100便携式α/β表面污染测量仪采用涂锌塑料闪烁体探测器，灵敏面积高达2500px2。多种操作模式，功耗低，NiMH电池可持续使用1000小时。 端窗：0.87 mg/cm2,覆铝薄膜功率：AM-241：36% （α）Co-60： 25% （β）Sr/Y-90：49% （β）γ......
国仪量子 扫描电子显微镜 SEM3200可用于测定光伏电池，适用于表面缺陷和结构形状项目。并且参考多项行业标准太阳能电池绒面的研究。可应用于电子/半导体行业领域。 五分割半导体背散射探测器——多通道成像探测器设计精巧，灵敏度高，采用5分割设计，无需倾斜样品，可获得不同方向的阴影像以及成分分布图像。单通道阴影像成分像能谱LED小灯珠能谱面分析结果。 ......
