表面形貌测量仪
仪器简介： 仪器名称：ZETA电位分析仪 研究对象：纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。 主要用途：测量材料的表面电荷，了解材料表面上的电荷状况，研究材料表面性能。 主要应用：材料表面改性 材料表面黏附、吸......
用于测量α，β，γ，X辐射。加窗后，可以测量17KeV-3MeV的γ辐射，还可以区分α，β辐射。多种操作模式，9g氧化镥（50Bq/g,1.4nCi/g）刻度源。 探测器：GM计数管，窗直径44mm，厚度1.8-20mg/cm2测量范围（γ）：RadEye B20：0-2mSv/hRadEye B20-ER：0-100mSv/h测量范围（污染）：R......
主要特点：测量原理 ：在电化学双电流层的模型中，电荷分布形成固定层与可移动层。滑动层将这两层彼此分离。 ZETA 电位指定为在滑动层上固体表面与液相之间电势的衰减。电解质流动的外部力平行应用于固体与液体界面导致固定层与可移动层之间相对运动与电荷分离，由此得出实验的ZETA 电位。 流动电势的大小由液相的流动压差P决定。ZETA 电位即可定义为固体表面的固定层......
岛津电子探针EPMAEPMA-1720系列参考多项行业标准/ VBA。完成玻璃 的检测。可以用在多个行业领域中的 玻璃表面气泡区域的形貌及元素分析 项目。 采用SPM和EPMA技术观测玻璃表面的缺陷类型及缺陷处的元素分布，对玻璃生产加工工艺及质量控制可以起到一定的指导作用。 先进的分析本领与优越的操作性能融为一体！前沿科技，隆重登场。高灵敏度 ·&......
中图仪器SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪以白光干涉技术原理，用于对各种精密器件表面进行纳米级测量。通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌，专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征......
中图仪器NS系列微米到纳米尺度表面形貌接触式台阶测量仪用于测量台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数，是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器。它采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。NS系列微米到纳米尺度表面形貌接......
中图仪器SuperViewW光学三维表面形貌测量仪是利用光学干涉原理研制开发的超精细表面轮廓测量仪器，主要用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现......
中图仪器SuperVieweW光学表面微观形貌轮廓测量仪以白光干涉技术为原理，用于对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、孔隙间隙、磨损情况、腐蚀情况、波纹度、台阶高度、表面缺陷、面形轮廓、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。SuperVieweW光学表面微观形貌轮廓测量仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单......
中图仪器SuperViewW白光干涉3D表面形貌测量仪基于白光干涉原理，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。它具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。SuperViewW白光干涉3D表面形貌测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳......
chotest中图仪器白光干涉表面形貌3D测量仪利用光学干涉原理研制开发的超精细表面轮廓测量仪器，主要用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。工作原理照明光束经半反半透分光镜分成两束光，分别投射到样品表面和参考镜表面。从两个表面反射的两束光再次通过分光镜后合成一束光，并由成像系统在CCD相机感光面形成两个叠加的像。由于两束光相互干涉，在CCD相机感光面......