赛默飞Meridian EX Semiconductor半导体故障隔离系统

Thermo Scientific Meridian EX 系统是一种基于电子束的创新解决方案，用于在高级逻辑设备中精确定位缺陷。它采用突破性的电子束技术，可以从设备的正面或背面探测复杂的布线网络。与光学方法相比分辨率提高了 10倍，确保了对最先进的半导体器件进行快速、准确和可靠的缺陷分析。