滤光片表面缺陷检测设备
表面视像缺陷检测系统表面视像缺陷检测系统的主要优点：1、技术领先，60MHz高速行扫描CCD技术，每秒可最大扫描14,000次，防止漏验。2、独特的LED光源技术，高亮度，高寿命，低能耗。3、生产统计、趋势功能软件，让生产状况一目了然。4、高级分切管理等功能，帮助优化分切。5、中文界面，从操作到高级设置，方便使用，让您100％完全掌握系统。6、系统可升级扩展......
仪器简介：应用： ◆ 硅片、化合物、半导体及透明材质产品表面缺陷的检查分析。技术参数：KLA-Tencor Candela CS10表面缺陷检测设备是针对半导体行业的表面缺陷的检查分析仪器。该设备利用激光扫描样品的整个表面，通过4个频道（散射光频道、反射光频道、相移频道及Z频道）的探测器所收集到的信号，快速的将缺陷（包括微粒、划伤、坑点、污染、痕迹......
安捷伦紫外Cary 7000可以用在纳米材料行业领域，用来检测亚纳米窄带滤光片，可完成表征项目。符合多项行业标准。 带通滤光片可以做为光栅单色器的廉价替代品，用于分离窄波长区域。许多商用的带通滤光片的最大半峰宽为10nm。本文主要使用安捷伦Cary系列高端分光光度计对亚纳米带通滤光片的半峰宽进行了表征。测试的三个样品中，其中一个样品的半峰宽为3.1埃，而另外......
国仪量子 扫描电子显微镜 SEM3200可用于测定光伏电池，适用于表面缺陷和结构形状项目。并且参考多项行业标准太阳能电池绒面的研究。可应用于电子/半导体行业领域。 五分割半导体背散射探测器——多通道成像探测器设计精巧，灵敏度高，采用5分割设计，无需倾斜样品，可获得不同方向的阴影像以及成分分布图像。单通道阴影像成分像能谱LED小灯珠能谱面分析结果。 ......
国仪量子 场发射扫描电镜 SEM5000可以用在航空/航天行业领域，用来检测光伏电池，可完成表面缺陷和结构形状项目。符合多项行业标准太阳能电池绒面的研究。 SEM5000是一款分辨率高、功能丰富的场发射扫描电子显微镜。先进的镜筒设计，高压隧道技术（SuperTunnel）、低像差无漏磁物镜设计，实现了低电压高分辨率成像，同时磁性样品可适用。光学导航、完善的......
1. 子弹外观视觉检测采用数字高速相机对子弹进行360度拍照检测，子弹外观表面缺陷检测内容包括压伤、褶皱、划痕、变形、裂纹、穿孔、凹坑、线痕、传火孔不全、脏污、腐蚀、镀层不良、氧化生锈 2. 气门导管外观视觉检测火花塞外观表面缺陷检测内容包括螺牙不良、瓷提裂纹、破损、电极变形、字符不良、漏装螺帽、脏污、腐蚀、氧化生 3.火花塞外观视觉检测......
OSIRIS Hot和OSIRIS Cold在一个系统中融合了两种检测功能，用于钢铁及金属行业的先进的在线表面缺陷和轮廓测量系统。OSIRIS测量解决方案可作为轧机和轧线的一部分运行，可以测量高达1100摄氏度下高速通过测量站的各种型材。OSIRIS系统采用最先进的激光技术和高采样率，可对轮廓或长材进行完整的三维重建，检查轮廓形状的尺寸精度，并在单次操作中检......
