可信的椭圆偏振测厚仪

在线镀层测厚仪

参考成交价格: 暂无

赛默飞 在线测厚仪

型号:RM300/310/315

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仪器简介:不论是在国外还是国内,赛默飞世尔(Thermofisher)公司的测厚仪市场占有率始终遥遥领先。RM310系列镀层重量测厚仪凭借其出色的设计,先进的射线荧光技术,精确的测量,极高的稳定可靠性,在市场上,特别是高档次的镀锌(锡)线上,其占有量遥遥领先。技术参数:安装:热镀锌线“热”端涂层重量测厚仪能够对钢带的金属涂层(涂层成分:锌,锌/镍,锌/铝,铝......

工业型球磨型膜厚仪只需 2 到 5 分钟即可测量出涂层的厚度。在这个专业版本中,电机固定在一个液压臂上,从而对样品的尺寸不造成任何限制。该测试仪是快速精确地测量工业中常见的涂层部件的涂层厚度的理想仪器。主要特点适用于工业用途的高性能分析球坑磨损测试法涂层厚度测量适用于各种各样的材料精细和极精细的研磨液无样品尺寸限制可选择“紧凑型”或“工业型”配置选件:具有自......

 技术参数:主要技术参数 工作台尺寸: 50 x 50 mm 转动速率: 60 to 1200 rpm 标准磨球直径: 20, 25, 30mm 磨损时间范围: 10 - 90 sec or 1 - 9 min主要特点:特点 分为两款紧凑型和工业型薄膜与基体的磨损率测量 膜厚测量 适用于多种材料 可以导出数据进行更深入分析(例如: EXCEL 等)......

球磨型膜厚测试仪Calotest为您提供简单快速并且低成本的膜厚测量方法。一个半径精确已知的磨球由自身重力作用于镀膜试样表面并进行自转。在测试过程中,磨球与试样的相对位置以及施加于试样的压力保持恒定。磨球与试样间的相对运动以及金刚石颗粒研磨液的共同作用将试样表面磨损出一球冠形凹坑。随后的金相显微镜观测可以获得磨损坑内涂层和基体部分投影面积的几何参数。在得知了......

安捷伦Agilent GC/Q-TOF 气质联用7250用于测定化合物,符合行业标准暂无。适用鉴定和确认化合物项目。   前言 Agilent 7250 四极杆飞行时间气质联用系统具有广泛的动态范围,可为适用于气相色谱分析的化合物鉴定、定量和研究提供全谱、高分辨率的精确质量数据。电子轰击离子源具有低能量 EI 功能。 通过高分辨率的精确数据结果和高灵敏度检......

赛默飞液相色谱仪Vanquish用于测定肽谱,符合行业标准暂无。适用肽谱分析项目。 Vanquish 系统引领了色谱领域又一次革命性变革,同时谱写了高端UHPLC的新篇章,在Pittcon 2015上,更是以年度zei佳分离产品一举拿下“科学家选择奖”。 该系统不论是单独使用还是与zei新的质谱仪联用都具有更高的性能、生产率和易用性。其......

安捷伦Agilent Q-TOF 液质联用系统 6545用于测定化合物,符合行业标准暂无。适用鉴定和确认化合物项目。   前言  Agilent 6545 四极杆飞行时间液质联用系统新型 6545 Q-TOF 将软件与硬件的创新进行了有机结合,使仪器质量、仪器稳定性及其整体性能均得到了显著提高。无论从事药物研究、食品安全分析、法医/毒理学......

自动椭圆偏振测厚仪

参考成交价格: 暂无

椭偏仪

型号:TPY-2型

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仪器简介:产品特点: 仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率,具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦氖激光器,功率稳定波长精度高。 仪器采用USB接口与电脑连接,配套软件功能齐全,具有多样数据采集及处理方式,适用于不同用户的需要。技术参数:规格与主要技术指标: 测量范围:1nm-4000nm 折射率范围:1-10 测量......

    EX3自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法(或称“零椭偏”)测量原理,针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。与EM22仪器相比,该仪器采用半导体激光器作为光源,稳定性好,体积更小。    EX3仪器适用于纳米薄膜的厚度测量,以及纳米薄膜的厚度和折射率同时测量。    EX3仪器还可......

椭圆偏振测厚仪

参考成交价格: 暂无

椭偏仪

型号:TPY-1 型

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仪器简介:在近代科学技术的许多领域中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此,更加精确和迅速的测定给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中可以利用各种传统的方法测定光学参数,如:布儒斯特角法测介质膜的折射率,干涉法测膜厚,其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。由于椭圆偏振法具有灵敏度高、精度高、非破坏性测量等优点,因而,......