价格公道的椭圆偏振测厚仪

椭圆偏振测厚仪

参考成交价格: 暂无

椭偏仪

型号:TPY-1 型

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仪器简介:在近代科学技术的许多领域中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此,更加精确和迅速的测定给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中可以利用各种传统的方法测定光学参数,如:布儒斯特角法测介质膜的折射率,干涉法测膜厚,其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。由于椭圆偏振法具有灵敏度高、精度高、非破坏性测量等优点,因而,......

    EX3自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法(或称“零椭偏”)测量原理,针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。与EM22仪器相比,该仪器采用半导体激光器作为光源,稳定性好,体积更小。    EX3仪器适用于纳米薄膜的厚度测量,以及纳米薄膜的厚度和折射率同时测量。    EX3仪器还可......

    EX2自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法(或称“零椭偏”)椭偏测量原理,针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。    EX2仪器适用于纳米薄膜的厚度测量,以及纳米薄膜的厚度和折射率同时测量。    EX2仪器还可用于同时测量块状材料(如,金属、半导体、介质)的折射率n和消光系数k......

在线镀层测厚仪

参考成交价格: 暂无

赛默飞 在线测厚仪

型号:RM300/310/315

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仪器简介:不论是在国外还是国内,赛默飞世尔(Thermofisher)公司的测厚仪市场占有率始终遥遥领先。RM310系列镀层重量测厚仪凭借其出色的设计,先进的射线荧光技术,精确的测量,极高的稳定可靠性,在市场上,特别是高档次的镀锌(锡)线上,其占有量遥遥领先。技术参数:安装:热镀锌线“热”端涂层重量测厚仪能够对钢带的金属涂层(涂层成分:锌,锌/镍,锌/铝,铝......

仪器简介:瑞美RM 215HM系列测厚系统可为金属板带生产提供精确,高速的非接触式厚度测量。它广泛应用于各类轧机板带生产线,它采用模块化设计,配置灵活,维护简便,经济且性能指标优异。 瑞美RM215HM系列X射线测厚仪能在线检测热轧板带或中厚板/宽厚板的厚度,并实时反馈测量值和偏差值,用户能够根据RM 215HM测厚系统提供的,对测量结果的绝对值和......

特定的X-射线可由比例计数器来侦测。当辐射撞击在比例器后,即转换为近几年的脉波。电路输出脉冲高度与能量撞击大小成正比。由特殊物质所发出的X-射线可由其后的鉴别电路记录。使用X-射线荧光原理测厚,将被测物置于仪器中,使待测部位受到X-射线的照射。此时,特定X-射线将由镀膜、素材及任何中间层膜产生,而检测系统将其转换为成比例的电信号,且由仪器记录下来,测量X-射......

主要特点适用于工业用途的高性能分析球坑磨损测试法涂层厚度测量适用于各种各样的材料精细和极精细的研磨液无样品尺寸限制可选择“紧凑型”或“工业型”配置选件:具有自动厚度计算功能的光学测量系统技术指标转轴速度:10 rpm 到 3000 rpm磨损时间范围:1 到 10000 秒标准球直径:10、15、20、25.4、30 mm国际标准:ISO 1071-2、VD......

工业型球磨型膜厚仪只需 2 到 5 分钟即可测量出涂层的厚度。在这个专业版本中,电机固定在一个液压臂上,从而对样品的尺寸不造成任何限制。该测试仪是快速精确地测量工业中常见的涂层部件的涂层厚度的理想仪器。主要特点适用于工业用途的高性能分析球坑磨损测试法涂层厚度测量适用于各种各样的材料精细和极精细的研磨液无样品尺寸限制可选择“紧凑型”或“工业型”配置选件:具有自......

球磨型膜厚测试仪Calotest为您提供简单快速并且低成本的膜厚测量方法。一个半径精确已知的磨球由自身重力作用于镀膜试样表面并进行自转。在测试过程中,磨球与试样的相对位置以及施加于试样的压力保持恒定。磨球与试样间的相对运动以及金刚石颗粒研磨液的共同作用将试样表面磨损出一球冠形凹坑。随后的金相显微镜观测可以获得磨损坑内涂层和基体部分投影面积的几何参数。在得知了......

 技术参数:主要技术参数 工作台尺寸: 50 x 50 mm 转动速率: 60 to 1200 rpm 标准磨球直径: 20, 25, 30mm 磨损时间范围: 10 - 90 sec or 1 - 9 min主要特点:特点 分为两款紧凑型和工业型薄膜与基体的磨损率测量 膜厚测量 适用于多种材料 可以导出数据进行更深入分析(例如: EXCEL 等)......

厂商新闻
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