EX2自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法（或称“零椭偏”）椭偏测量原理，针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。

    EX2仪器适用于纳米薄膜的厚度测量，以及纳米薄膜的厚度和折射率同时测量。

    EX2仪器还可用于同时测量块状材料（如，金属、半导体、介质）的折射率n和消光系数k。

特点

• 经典消光法椭偏测量原理

  仪器采用消光法椭偏测量原理，易于操作者理解和掌握椭偏测量基本原理和过程。

• 方便安全的样品水平放置方式

  采用水平放置样品的方式，方便样品的取放。

• 紧凑的一体化结构

  集成一体化设计，简洁的仪器外形通过USB接口与计算机相连，方便使用。

• 高准确性的激光光源

  采用激光作为探测光波，测量波长准确度高。

• 丰富实用的样品测量功能

  可测量纳米薄膜的膜厚和折射率；块状材料的复折射率、样品反射率、样品透过率。

• 便捷的自动化操作

  仪器软件可自动完成样品测量，并可进行方便的测量数据分析、仪器校准等操作。

• 安全的用户使用权限管理

  软件中设置了用户使用权限（包括：管理员、操作者等模式），便于仪器管理和使用。

• 可扩展的仪器功能

  利用本仪器，可通过适当扩展，完成多项偏振测量实验，如马吕斯定律实验、旋光测量实、旋光等。

应用

    EX2适合于教学中单层纳米薄膜的薄膜厚度测量，也可用于测量块状材料的折射率n和消光系数k。

    EX2可测量的样品涉及微电子、半导体、集成电路、显示技术、太阳电池、光学薄膜、生命科学、化学、电化学、磁质存储、平板显示、聚合物及金属表面处理等领域。

技术指标

 注：(1)测量重复性：是指对标准样品上同一点、同一条件下连续测量30次所计算的标准差。

性能保证

• ISO9001国际质量体系下的仪器质量保证

• 专业的椭偏测量原理课程 

• 专业的仪器使用培训

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途