火的白光干涉测厚仪
一、用途 （1）二、三维表面形貌测量 （2）膜厚和台阶测量 （3）刻线和沟槽尺寸测量 （4）任意曲面形貌测量 （5）球面和非球面轮廓非接触测量 （6）MEMS器件三维尺寸测量 （7）微光学元件测量 二、仪器构成 （1）宽带光干涉显微镜 （2）垂直位移扫描工作台 （3）摄像及图像处理系统 （4）工控机 三、测量原理 ......
仪器的原理，主要构成与特点与WIVS-I型 基本相同，其区别如下： 1 、干涉显微镜为自主设计，具有4x、10x、20x、40x、60x、100x等显微镜组，用户可根据测量视场范围及横向分辨率的要求挑选。而WIVS—I型由于是6JA干涉显微镜改造而来，其物镜是固定的，为40x。因此WIVS-II型干涉显微镜的测量视场扩大了，显微镜......
Leica DCM8 白光共焦干涉/光学表面测量系统产品规格下载Leica DCM8采用了最新的非接触式三维光学表面测量技术。设计用于提高您的工作效率，它是一款融合了高清晰度共聚焦显微镜和干涉测量技术优点的多功能双核系统。一键模式选择，精密软件、无移动部件的高分辨率共聚焦扫描技术确保用户实现超快速的分析操作。 可通过各种规格的徕卡物镜、电动载物台和镜筒来对系......
产品创新点上市时间：2019年3月(1)高测量性能 ，垂直方向分辨率高，重现性好，测量速度快，测量视野广，无损伤测量(2)易于使用的操作界面(3)ISO 25178参数对比工具(4)硬件全面升级产品简介 日立高新技术科学公司于2019年3月起，在中国开始销售利用光干涉原理进行非接触式无损伤三维表面形态测量的纳米尺度3D光学干涉测量系统“VS1800”，该......
FORJ“火蝾”熔样机——源自Claisse专业熔融技术高精度元素分析强有力的保证FORJ 熔样机拥有高水平的稳健性，旨在提供出色的生产力和可靠的结果，它是改变熔融法样品制备的变革者。不管您是采用 X 射线荧光法 (XRF)、电感耦合等离子体法 (ICP) 还是原子吸收法 (AA) 进行分析，FORJ 都是您的分析过程中的一个关键环节。机器稳健可靠高处理量可......
Xper WLI 白光干涉仪 Xper WLI 白光干涉仪Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量......
安捷伦液质LC/MSD用于测定大麻或火麻及其衍生产品，符合行业标准。适用植物大麻素项目。 与单独的 UV 检测相比，1260 Infinity IIPrime LC 与 LC/MSD iQ 的联用系统不仅简便易用，还为大麻素产品（例如宠物用CBD 油）分析提供了更高的选择性。本研究中所述的分析方法确定了六种产品中是否存在 11 种大麻素，并对发现的大麻素进行......
安捷伦谱图软件和数据处理OpenLAB可用于测定大麻或火麻及其衍生产品，适用于植物大麻素项目。并且参考多项行业标准。可应用于法医行业领域。 与单独的 UV 检测相比，1260 Infinity IIPrime LC 与 LC/MSD iQ 的联用系统不仅简便易用，还为大麻素产品（例如宠物用CBD 油）分析提供了更高的选择性。本研究中所述的分析方法确定了六种产......
Delta薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。Delta根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜，还可以测量n和k值。产品特点快速、准确、无损、灵活、易用、性价比......
仪器介绍 Delta薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。TF200根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上......