天美讲堂丨什么是FLIM-荧光寿命成像?

2023-10-16 20:31:53, 天美 天美仪拓实验室设备(上海)有限公司



文章要点



1.荧光寿命成像(FLIM)技术用于测量整个样品荧光寿命的变化。

2.使用脉冲激光器和时间相关单光子计数(TCSPC)来记录FLIM图像。

3.荧光寿命成像(FLIM)提供了传统荧光强度成像无法获得的额外信息。

为什么使用FLIM?

PART

01

荧光寿命成像(FLIM)是一种成像技术,样品荧光寿命的变化在图像中产生对比度(图1)。FLIM广泛用于生物医学成像,其中组织和细胞用一种或多种荧光染料染色。染料的荧光寿命取决于局部微环境,FLIM比其他成像技术(如宽场成像)提供了额外的维度,如环境信息。FLIM也越来越多地用于研究光致发光材料,例如对纳米材料、太阳能电池和半导体的载流子寿命变化进行成像。

图1  使用RMS1000共聚焦显微拉曼光谱仪测量(a)小鼠肠道切片和(b)小鼠肾脏切片的FLIM图像。

FLIM共聚焦显微镜

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02

FLIM成像是使用共聚焦显微镜获取的(图2)。显微镜配备有脉冲激光器,激光由物镜聚焦到样品上形成一个小斑点。使用滤光片或单色仪(图2的排列方式)选择来自样品的荧光,并使用单光子计数检测器如光电倍增管(PMT)进行检测。

图2  FLIM共聚焦显微镜


FLIM采集

PART

03

荧光衰减是使用时间相关单光子计数(TCSPC)获得的。在TCSPC中,用脉冲激光激发样品,并测量激光脉冲和检测到的荧光光子之间的时间(图3a)。该过程重复数百万次,以创建荧光光子计数与到达时间的直方图(图3b)。

将样品上感兴趣的区域划分为像素,并使用TCSPC记录每个像素的荧光衰减(图3c)。通过移动样品台(样品台扫描)或激光点(激光扫描)将激光点引导到每个像素上。这个过程按顺序发生,依次记录每个像素的荧光衰减,以构建直方图数据合集。

图3  (a)使用TCSPC记录单个光子到达时间;(b) 单个像素的荧光衰减直方图;(c)感兴趣区域内逐个记录像素的荧光衰减直方图。

FLIM分析

PART

04

计算每个像素荧光衰减直方图的荧光寿命。通常用最小二乘法将单指数模型拟合到每个衰减来计算,以获得荧光寿命τ(图4)。将通过拟合获得的荧光寿命对应到颜色图上,构建颜色编码的荧光寿命图像。

图4  计算FLIM数据,每个像素的荧光寿命对应颜色变化,构建颜色编码的荧光寿命图像。

结  论

荧光寿命成像(FLIM)是光致发光光谱的补充,提供了关于样品微环境的信息。使用时间相关单光子计数(TCSPC)获取寿命信息,用单指数模型来拟合荧光衰减曲线,构建颜色编码的荧光寿命图像。通过RMS1000共聚焦显微拉曼光谱仪不仅可以获取拉曼光谱信息,还可以实现荧光寿命成像(FLIM),实现全方位多维度样品信息检测,满足科研多“维度”需求。



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