热点应用丨钙钛矿质量控制中的辐射发光技术

2026-03-18 17:53:52, 天美


金属卤化物钙钛矿(如晶体 CsPbBr₃)因其生产成本低、动态范围广,被视为下一代 X 射线探测器材料。 

然而,这类材料的一个关键挑战在于:如何获得足够高质量的晶体,以实现灵敏的辐射探测。 

本文重点介绍剑桥大学的一项研究:研究人员使用配备了 XS1 辐射发光样品室的爱丁堡仪器 FLS1000 光致发光光谱仪,评估了 CsPbBr₃晶体在 X 射线探测中的质量表现。

X 射线和 γ 射线等电离辐射探测在医学成像、国土安全以及高能物理研究等诸多领域都至关重要。金属卤化物钙钛矿(如 CsPbBr₃)因其生产成本低、在宽光子能量范围(200–500 keV)内灵敏度高,且可在室温下工作,已成为 X 射线探测领域日益受青睐的材料。

这类材料要走向商业化,最大的挑战之一是如何获得高质量的块状晶体,因为晶体质量直接决定了探测器的性能。高质量晶体通常具有较高的载流子迁移率和较长的载流子寿命,这两者对于高效收集电荷至关重要。

本文介绍剑桥大学Samuel Stranks教授团队发表在《Advanced Materials》上的一项研究¹。在该研究中,作者采用辐射发光(RL)光谱技术,评估了CsPbBr₃晶体用于电离辐射探测的质量。

为了保证RL测量结果能真实反映晶体质量,需要使用高精度的科研级仪器。该研究的RL测量是在配备了XS1辐射发光样品室的爱丁堡仪器FLS1000光致发光光谱仪上完成的(图1)。XS1样品室通过液光导与FLS1000连接,可兼容连续输出(CW)和脉冲 X 射线源。

图 1:用于光谱测量的 FLS1000 光致发光光谱仪与 XS1 辐射发光样品仓连接示意图

方法与材料

研究人员通过控制晶体生长速率,合成了不同质量的CsPbBr₃单晶:低质量晶体(生长速率3 mm/h)、高质量A晶体(2 mm/h)和高质量B晶体(1 mm/h)。晶体的质量还通过其暗计数和对γ射线的响应进行了评估。辐射发光测量在配备XS1样品室的FLS1000光谱仪上进行。

将不同质量的单晶放入 XS1 样品仓,使用 X 射线源辐照,电压和电流分别设置为 60 kV/200 μA、40 kV/300 μA 或 20 kV/600 μA,每种情况下总功率均为 12 W。XS1 配套的 X 射线源可通过软件控制轻松调节电压和电流。发射信号由 PMT-980 探测器检测,其光谱覆盖范围可达 950 nm。

结果

在X射线辐照下,所有晶体均表现出中心波长约为550 nm的发光峰(图2)。当X射线源设置为60 kV、200 μA时,生长速率最慢的高质量B晶体发光信号最强(图2a)。但在40 kV、300 μA和20 kV、600 μA条件下,高质量A晶体反而表现出最强的发光信号(图2b、c)。这说明,并不是生长速率越慢、晶体质量越高,发光信号就一定越强;实际的发光强度还与X射线源的电压和电流设置有关,情况比想象中更复杂。

图 2:在 X 射线源分别工作于 (a) 60 kV 200 μA、(b) 40 kV 300 μA 和 (c) 20 kV 600 μA 条件下测得的不同质量 CsPbBr₃晶体的辐射发光(RL)发射光谱。

结论

本研究亮点展示了如何将 FLS1000 与 XS1 联用,通过辐射发光(RL)光谱技术评估钙钛矿晶体的质量。可调谐 X 射线源使研究团队能够探究每个样品的最佳电压和电流条件,从而提供关于样品质量的宝贵信息。此外,FLS1000的高灵敏度让研究人员能够捕捉到微弱的发光信号,并检测到不同辐照条件下发光强度的细微变化,为晶体质量的精细评估提供了有力支持。

完整发表信息

该文章发表于《Advanced Materials》,可通过以下 DOI 获取:10.1002/adma.202512302

参考文献

1. Zimu Wei, Khasim Saheb Bayikadi, Capucine Mamak,et al. Carrier Diffusion Links Single Crystal Quality and Photoluminescence in Halide Perovskite Radiation Detectors. Adv. Mater., 2026, 38, e12302.

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