先进制程背后的“隐形守护者”——赛默飞离子色谱助力电子特气质量升级

2026-04-13 09:44:39, 飞飞 赛默飞色谱与质谱分析


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杨占强 郑洪国






在芯片不断迈向更高集成度与更小制程节点的今天,很多人关注光刻机、材料和设计,却往往忽略了一个关键角色——电子特气。从刻蚀、沉积到清洗,每一道核心工艺都离不开高纯气体的参与。而哪怕是ppb甚至ppt级别的微量杂质,都可能带来器件缺陷、良率下降,甚至整批报废。

👉 这就是为什么——电子特气的“纯度控制”,已经成为先进制造的核心竞争力之一。







🔬 赛默飞离子色谱: 

为“极致纯度”而生

面对电子特气中复杂且痕量的离子污染物,传统方法往往力不从心。而赛默飞离子色谱(IC),正是行业中备受信赖的解决方案:

更低检测限:轻松应对ppb/ppt级杂质挑战

更强抗干扰能力:复杂气体基体中依然稳定可靠

多离子同步分析:效率更高,数据更全面

成熟行业方案:广泛应用于半导体与电子材料领域

不仅是检测工具,更是保障产品良率与工艺稳定的“质量防线”。

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  三大典型应用场景,

直击行业热点

1

电子级二氧化碳(CO₂)——刻蚀与清洗的“纯度底线”

在CO₂应用中,微量Cl⁻、NO₃⁻、SO₄²⁻等阴离子杂质,可能引发腐蚀或缺陷问题。

✔ 赛默飞IC可实现超低浓度阴离子精准检测

✔ 搭配气体吸收方案,轻松应对复杂基体

👉 让每一份CO₂,都经得起高端工艺考验

《GB/T43772-2024 电子气体 二氧化碳》中样品预处理装置示意图(点击查看大图)

七种阴离子分离谱图

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样品加标回收率分离色谱图

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铵根离子分离谱图

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2

电子级氢气(H₂)——超高纯环境的“隐形风险”

氢气本身纯净,但系统引入的微量离子污染,却难以察觉。

✔ IC结合气体捕集技术及Cindion燃烧离子色谱新技术引入,实现痕量离子检测

✔ 可覆盖HCOO⁻、NH₄⁺、Cl⁻等关键污染物

👉 提前发现风险,避免“看不见”的良率损失

C-IC测定总卤素(点击查看大图)

IC测定氢气中甲酸及阴离子(点击查看大图)

IC测定氢中铵根离子(点击查看大图)

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3

电子级甲硅烷(SiH₄)——薄膜质量的关键变量

作为沉积核心前驱体,SiH₄对杂质极其敏感。

✔ IC可实现多种离子杂质同步分析

✔ 支持超痕量检测,满足先进制程需求

👉 为高质量薄膜沉积提供可靠数据支撑

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IC测定硅烷中氯离子


为什么越来越多半导体企业选择赛默飞?








因为他们不仅需要“检测结果”,更需要——

✔ 稳定可复制的分析方案

✔ 面向量产的高可靠系统

✔ 来自行业专家的持续支持

赛默飞离子色谱,不只是仪器,更是电子特气质量管理的长期伙伴。


📣 结语



随着半导体行业对材料纯度要求不断提升,电子特气中的微量杂质控制已成为关键环节。赛默飞离子色谱技术凭借其高灵敏度与高可靠性,为电子特气分析提供了强有力的技术支撑。

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