膜厚测试仪使用方法
F50薄膜厚度测量仪自动化薄膜厚度绘图系统依靠F50先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。F50系统配置高精度使用寿命长的移动平台，确保能够做成千上万次测量。系统中预设了许多极坐标形、......
仪器简介：球磨型膜厚磨损测试仪 球磨型膜厚测试仪Calotest为您提供简单快速并且低成本的膜厚测量方法。一个半径精确已知的磨球由自身重力作用于镀膜试样表面并进行自转。在测试过程中，磨球与试样的相对位置以及施加于试样的压力保持恒定。磨球与试样间的相对运动以及金刚石颗粒研磨液的共同作用将试样表面磨损出一球冠形凹坑。随后的金相显微镜观测可以获得磨损坑内涂层和基体......
日本KETT 膜厚计 LZ-990 測定方式 電磁・渦電流式 測定対象 磁性金属 測定範囲 0 ～ 2000μm または0 ～ 80.0mils 測定精度 50μm±1μm、50μm-1000μm-±2％1000μm-2000......
膜厚量测仪FE-300的特点测试范围涵盖薄膜到厚膜基于绝对反射率光谱分析膜厚小型・低价，精度高无复杂设定，操作简单，短时间内即可上手外观新颖，操作性提高非线性*小二乘法，实现光学常数解析（n：折射率、k：消光系数）对应膜种○ 多层膜 &nbs......
特长 Features· 膜厚测量中必要的功能集中于头部· 通过显微分光高精度测量绝对反射率（多层膜厚、光学常数）· 1点只需不到1秒的高速tact· 实现了显微下广测量波长范围的光学系（紫外～近红外）· 通过区域传感器控制的安全构造· 搭载可私人定制测量顺序的强大功能· 即便是没有经验的......
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 用于测定DNA传感器垫片，符合行业标准0。适用膜厚检测项目。 技术参数： * 光谱范围: 190-885 nm（可扩展至2100nm） * 微光斑可选50µm......
岛津波散型XRFXRF-1800型适用于膜厚测定、薄膜测定项目，参考多项行业标准。可以检测钢板涂层、薄膜等样品。可应用于地矿/有色金属行业领域。 彩色涂层钢板的测定实例；电容器薄膜的测定实例 仪器简介： 可进行固体、粉末、液体等多种样品的定性分析和无需工作曲线的FP法定量分析。在成熟的硬件上又增加了新开发的利用高次线进行的定性定量法、250 um......
