探针式表面轮廓仪
Bruker 探针式表面轮廓仪（台阶仪）-DektakXT一、概述布鲁克DektakXT （探针式表面轮廓仪）设计创新，实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性<5?。这一里程碑式的产品源自于Dektak系列占据业界领xian地位长达四十年的优异表面测量技术。实现了纳米尺度的表面轮廓测量，在微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触......
KLA P-170 全自动探针式表面轮廓仪KLA P-170 全自动探针式表面轮廓仪产品介绍：KLA P-170 全自动探针式表面轮廓仪一款盒对盒型台阶仪，具有KLA P-17 探针式表面轮廓仪的台式系统测量性能和HRP260系统经生产验证的处理程序。该系统提供了一个可编程的扫描平台、低噪音和整个垂直范围内的亚安格伦电子分辨率，可以在样品表面的任何地方进行高......
KLA D600 探针式表面轮廓仪KLA D600 探针式表面轮廓仪产品介绍：KLA D600 探针式表面轮廓仪采用光学杠杆传感器技术提供高分辨率、较大的高度测量范围和准确的微力控制。探针的接触式测量技术的优点是直接测量，与材料特性无关。多种力度调节和探针尺寸选择可以让机台对各种结构和材料进行准确测量。这些功能可以表征因添加或移除材料而引起的形貌特征改变，以......
KLA D500 探针式表面轮廓仪KLA D500 探针式表面轮廓仪产品介绍：KLA D500 探针式表面轮廓仪的光学杠杆传感器技术提供高分辨率、较大的高度测量范围和准确的微力控制。探针的接触式测量技术的优点是直接测量，与材料特性无关。多种力度调节和探针尺寸选择可以让机台对各种结构和材料进行准确测量。这些功能可以表征因添加或移除材料而引起的形貌特征改变，以及......
Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品，为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和全封闭工作站设计，具有易用的联锁门，是当今苛刻的生产车间环境的的理想之选。其双摄像头架构可增强空间感知能力，其高自动化水平可最大限度地提高测试通量。业界最......
点击查看下载布鲁克轮廓仪 探针式表面 探针式表面(Stylus Profiler System)相关资料，进一步了解产品。 Bruker-Exclusive Dual Camera Control™Navigate to points of interest faster by clicking in live videoQuickl......
中图仪器NS系列探针式轮廓薄膜表面台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。能够测量纳米到330μm或1050μm的台阶高度；能够测量样品的粗糙度和波纹度，获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等数十项参数。工作过程测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面......
