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DektakXT 第十代探针式表面轮廓仪

发布时间: 2014-02-21 10:59 来源:布鲁克电子显微纳米分析仪器部
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DektakXT-中文彩页-08 Aug 2013.pdf

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  DektakXT 功能卓越,极致表现

  布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)设计 创新,实现了更高的重复性和分辨率,垂直高度重复性 高达5Å。这项测量性能的提高,达到了过去四十年 Dektak体系技术创新的顶峰,更加稳固了其行业中的领 先地位。不论应用于研发还是产品测量,在研究工作中 的广泛使用使得DektakXT的功能更强大,操作更简便易 行,检测过程和数据采集也更加完善。第十代DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)的技术突破,实现了纳米 尺度的表面轮廓测量,从而可以广泛的应用于微电子器 件,半导体,电池,高亮度发光二极管的研发以及材料 科学领域。

  DektakXT 技术参数

  台阶高度重复性5Å

  — 单拱龙门式设计实现了突破性的扫描稳定性

  — 先进的”智能化电子器件”实现了低噪声的新标准

  — 新的硬件配置使数据采集能力提高了40%

  — 64位 的Vision64同步数据处理软件,将数据分析速度提高十倍。

  功能卓越,操作简易

  — 直观的Vision64用户界面操作流程简便易行

  — 自对准式探针设计使得更换探针的步骤简便易行

  探针轮廓仪业界翘楚,无可匹敌的价值

  — 性能优异, 物超所值

  — 独特的传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和正常力测量

  技术创新四十余载,不断突破勇攀高峰

  过去四十多年间,布鲁克的台阶仪研制和生产一直在理论和实践上不断实现创新性成果——首台基于微处理器控制的轮廓仪,首台实现微米测量的台阶仪,首台可以达到3D测量的仪器,首台个人电脑控制的轮廓仪,首台全自动300mm台阶仪——DektakXT延续了这种开创性的风格,全新的DektakXT成为世界上第一台采用具有单拱龙门式设计, 配备全彩HD摄像机,并且利用64位同步数据处理模式完成最佳测量和操作效率的台阶仪。

  世界范围内有成千上万台Dektak系列产品应用于各个领域,它们以优质,可靠,高效等诸多特性而得到赞誉。 人们为了得到精确无误的台阶高度和表面粗糙度信息,首选使用Dektak来进行测量。这里,我们通过介绍 DektakXT的各项功能,帮助您可靠高效地完成表面测量工作。

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