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P-170 台阶仪

参考报价: 面议 型号: P-170
品牌: 科磊半导体 产地: 美国
关注度: 1175 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
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AI问答
可以做哪些实验,检测什么? 可以用哪些耗材和试剂?

P-170 Stylus Profiler



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  P-170是cassette-to-cassette探针式轮廓仪,可提供几纳米至一毫米的台阶高度测量功能,适用于生产环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。 P-170具有先进的图案识别算法、增强的光学系统和先进的平台,这保证了性能的稳定和系统间配方的无缝移植- 这是24x7生产环境的关键要求。


产品描述

  P-170是cassette-to-cassette探针式轮廓仪,将行业的P-17台式系统的测量性能和经过生产验证的HRP®-260的机械传送臂相结合。 这样的组合为机械传送臂系统提供了极低的拥有成本,适用于半导体,化合物半导体和相关行业。 P-170可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。


    该系统结合了UltraLite®传感器、恒力控制和超平扫描平台,因而具备出色的测量稳定性。通过点击式平台控制、顶视和侧视光学系统以及带光学变焦的高分辨率相机等功能,程序设置简便快速。P-170具备用于量化表面形貌的各种滤镜、调平和分析算法,可以支持2D或3D测量。并通过图案识别、排序和特征检测实现全自动测量。


主要功能

  •       台阶高度:几纳米至1000μm

  •       微力恒力控制:0.03至50mg

  •       样品全直径扫描,无需图像拼接

  •       视频:500万像素高分辨率彩色摄像机

  •       圆弧校正:消除由于探针的弧形运动引起的误差

  •       软件:简单易用的软件界面

  •       生产能力:通过测序、图案识别和SECS/GEM实现全自动化

  •       晶圆机械传送臂:自动加载75mm至200mm不透明(例如硅)和透明(例如蓝宝石)样品


主要应用

  •       台阶高度:2D和3D台阶高度

  •       纹理:2D和3D粗糙度和波纹度

  •       形状:2D和3D翘曲和形状

  •       应力:2D和3D薄膜应力

  •       缺陷复检:2D和3D缺陷表面形貌


工业应用

  •       半导体

  •       化合物半导体

  •       LED:发光二极管

  •       MEMS:微机电系统

  •       数据存储

  •       汽车

  •       还有更多:请与我们联系以满足您的要求








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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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