profiler p7 台阶仪

GD-Profiler 2是一款可进行超快镀层分析的理想工具,非常适合于导体(和/或)非导体复合镀层的分析。可分析70多种元素,其中包括C、H、O、N和Cl。一次测试可轻松获取镀层元素深度分布、镀层厚度、镀层均一性及表面/界面等信息。GD-Profiler 2可分析几纳米到200微米的深度,深度分辨率小于1纳米。GD-Profiler 2采用了脉冲式射频辉光......

Profiler HR 辉光放电光谱仪

参考成交价格: 暂无

堀场HORIBA 辉光放电光谱仪

型号:Profiler HR 辉光放电光谱仪

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GD-Profiler HR拥有独一无二的超高光谱分辨率,为解决复杂基体中的疑难问题提供了适宜、便利的方法。技术参数:1、射频发生器-标准配置、复合D级标准、稳定性高、溅射束斑极为平坦、等离子体稳定时间极短、表面信息无任何失真。2、脉冲工作模式既可以分析常规的涂/镀层和薄膜,也可以很好地分析热导性能差和热易碎的涂/镀层和薄膜。3、Polyscan多道(同时)......

P-7 Stylus Profiler产品描述P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。P-7建立在市场的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17技术的卓越测量性能,并作为台式探针轮廓仪平台提供了极高的性价比。 P-7......

P-17 Stylus Profiler  P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。产品描述P-17是第八代台式探针轮廓仪,是40多年的表面量测经验的结晶。该系统业界,支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其......

P-170 Stylus Profiler  P-170是cassette-to-cassette探针式轮廓仪,可提供几纳米至一毫米的台阶高度测量功能,适用于生产环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。 P-170具有先进的图案识别算法、增强的光学系统和先进的平台,这保证了性......

Alpha-Step D-600 台阶仪

参考成交价格: 暂无

科磊半导体 台阶仪

型号: Alpha-Step D-600

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Alpha-Step D-600 Stylus Profiler    Alpha-Step D-600探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D和3D台阶高度。 D-600还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的2D和3D测量。 D-600包括一个电动200毫米样品卡盘和先进的光学系统以及加强视频控制。产品描述......

仪器简介:应用:   ◆薄膜厚度测量;  ◆样品表面形貌测量;   ◆薄膜应力测量;   ◆样品表面粗糙度/波纹度测量;   ◆样品表面三维形貌测量等。技术参数:KLA-Tencor先进的探针式台阶仪,可精确测量纳米级至2毫米台阶高度,并可分析薄膜表面粗糙度、波纹度、应......

仪器简介:德国Fritsch公司是实验室样品预处理和颗粒度分析的专家。 德国Fritsch公司的P 7经典型微型行星式高能球磨机/仪,早在1962年便获得专利。该研磨机利用行星公转、自转原理,研磨球在研磨碗内进行高速的运动,通过高能的摩擦力和冲击力实现样品的粉碎,可快速将样品研磨至1μm以下。 该微型行星式高能球磨机/仪适用于实验室坚硬的......

仪器简介:德国Fritsch公司是实验室样品预处理和颗粒度分析的专家。 德国Fritsch公司的P 7经典型微型行星式高能球磨机/仪,早在1962年便获得。该研磨机利用行星公转、自转原理,研磨球在研磨碗内进行高速的运动,通过高能的摩擦力和冲击力实现样品的粉碎,可快速将样品研磨至1μm以下。 该微型行星式高能球磨机/仪适用于实......

点击查看下载堀场HORIBAGD Profiler 2 GDS 样本相关资料,进一步了解产品。 现在,大多数的材料都是多层结构,比如太阳能光伏电池、LED、硬盘、锂电池电极、镀层玻璃等。它们表面经过特殊处理或采用了先进镀层来改善材料性能,如提高耐腐蚀能力。 GD-Profiler 2是一款可进行超快镀层分析的理想工具,非常适合于导体(和/或)非导体复合镀层的......

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