stem是扫描透射电镜
日本电子株式会社2010年7月zei新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差，亮度低，无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题，并把该技术加入到zei新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时，能量分辨率提高到0.3eV，极大......
2016年新年伊始，日本电子株式会社（JEOL）即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能，JEM-F200进行了全新设计，在保障各种功能达到极限的同时，追求操作的简单化和自动......
仪器简介：NanoPattern图形发生器可以与扫描电镜/聚焦离子束/扫描透射电镜/扫描探针 相结合形成灵活实用的微米纳米图形制作系统。满足当前纳米技术方面的科研需求。 为了满足客户制作大面积图形和实现快捷的图形套刻制作，可根据客户的需求配备压电马达或激光干涉仪定位的工件台： 光栅定位工件台特性： ● 驱动马达：超声马达 ●&nbs......
仪器简介：对材料特性的全面认识是理解材料性能的基本前提。材料形态、晶体结构、化学成分、界面结构、表面以及缺陷都对材料的性能产生影响。透射电子显微镜已经被证实是在小到埃级尺寸研究各种普通材料和先进材料的非常有效的技术。它能够产生很多的信号, 这些信号携带了不同类型的有用信息。Tecnai G2 20经过特殊设计可以快速有效地采集和处理这些信号。将高分辨图像、明......
多功能透射电镜测试标样 此样品是镀金的多孔碳薄膜，并且有石墨化的碳颗粒沉积在上面。通过微孔可观察到碳颗粒的晶面间距。膜上形成的多晶金团簇，在这些团簇的边缘可分辨出晶格。此样品还可以通过标注镀金膜上孔内碳的沉积率来测定电镜的混染率。样品在3.05mm，200目铜网上。 TEM多晶铝标样 衍射标样（相......
Delong Instruments 荣誉出品LVEM5台式透射电子显微镜（Bench-top TEM） • 小型台式透射电子显微镜（TEM）• 多用途台式电子显微镜• 透射电镜（TEM）、电子衍射（ED）、扫描电镜（S......
仪器简介：在过去的几年中，半导体器件和IC生产等微电子技术已发展到深亚微米阶段及纳米阶段。为了追求晶片更高的运算速度与更高的效能，三十多年来，半导体产业遵循著摩尔定律（Moore’s Law）：每十八个月单一晶片上电晶体的数量倍增，持续地朝微小化努力。为继续摩尔定......
NPGS纳米图像电子束曝光系统 电子束曝光系统是利用计算机控制电子束成像电镜及偏转系统，聚焦形成高能电子束流，轰击照射涂有高分辨率和高灵敏度化学抗蚀剂的晶片直接描画或投影复印图形的技术。它的特点是分辨率高、图形产生和修改容易、制作周期短。 ......
Thermo Scientific™ Spectra™提供先进的原子级成像和分析 2019年美国电镜年会M＆M（Microscopy and Microanalysis 2019），赛默飞世尔科技推出Thermo Scientific Spectra 扫描/透射电子显微镜（S/TEM），旨在通过提供先进的原子技术加速突破性发现在一个工具中进行成像和分析。S......
裕隆时代重点推介产品！ ● 技术领先的小型台式扫描透射电子显微镜（SEM+TEM）● 功能丰富的多用途台式电子显微镜● 透射电镜（TEM）、电子衍射（ED）、扫描电镜（SEM）、扫描透射电镜（STEM）四种成像模式● 分辨率：1.2nm（TEM）；3nm（SEM）● Schottky场发射......