stem透射电镜
JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜JEM-ARM200F标配了照明系统球差校正器，是一款原子分辨分析型透射电镜，拥有世界领先的STEM-HAADF像分辨率（78pm）。标配照明系统球差校正器，且zei大限度地升了装置的机械稳定性和电气稳定性，实现了世界领先的STEM-HAADF像分辨率 ......
日本电子株式会社2010年7月zei新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差，亮度低，无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题，并把该技术加入到zei新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时，能量分辨率提高到0.3eV，极大......
在美国的第一台搭载冷场发射电子枪的JEM-ARM200F将安装在Florida State University’s Applied Superconductivity Center, housed in the National High Magnetic Field Laboratory. 其后美国的Brookheaven......
技术参数：1.分辨率：STEM图像分辨： 0.071 nm TEM点分辨：0.19 nm (0.11 nm with TEM Cs corrector） 2.放大倍数：STEM 100 to 150,000,000x ......
冷场发射12极子球差校正透射电镜信息由日本电子株式会社(JEOL)为您提供，如您想了解更多关于冷场发射12极子球差校正透射电镜报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。2020年02月14日，日本电子（JEOL Ltd.）总裁兼首席运营官Izumi Oi宣布发布全新原子分辨率分析电子显微镜JEM-ARM300F2（GRAND ARM™2）。■ 主......
使用单颗粒分析技术测定大分子结构的完整解决方案冷冻电镜单颗粒分析技术（Single Particle Analysis，SPA）可测定蛋白、蛋白复合物和其他生物大分子近原子分辨率的三维结构。这一成功得益于玻璃化技术的应用，样品以很快的速度冷冻，与其生物特性相关的天然状态得以保存。SPA 彻底变革了整个结构生物学领域，使人们对许多生物学过程有了新的认识。SPA......
TESCAN TENSOR高度集成、旋进辅助的分析型 4D- STEM TESCAN TENSOR 是一款中等加速电压、近超高真空的集成 4D-STEM， 用于多模态表征功能材料、薄膜、天然和合成颗粒的纳米形态、化学和结构特性，具有出色的4D-STEM 性能和前所未有的普遍适用性。 测量功能:TESCAN TENSOR 为材料科学家、半导......
电子显微镜与光学显微镜的成像原理基本一样，所不同的是前者用电子束作光源，用电磁场作透镜。另外，由于电子束的穿透力很弱，因此用于电镜的标本须制成厚度约50nm左右的超薄切片。这种切片需要用超薄切片机（ultramicrotome）制作。TESCAN TENSOR高度集成、旋进辅助的分析型 4D- STEM TESCAN TENSOR 是一款中等加速电......
薄膜是一种薄而软的透明薄片。用塑料、胶粘剂、橡胶或其他材料制成。薄膜科学上的解释为：由原子，分子或离子沉积在基片表面形成的2维材料。例：光学薄膜、复合薄膜、超导薄膜、聚酯薄膜、尼龙薄膜、塑料薄膜等等。薄膜被广泛用于电子电器，机械，印刷等行业。TESCAN TENSOR高度集成、旋进辅助的分析型 4D- STEM TESCAN TENSOR 是一款中......
电子显微镜的放大倍数最高可达近百万倍、由照明系统、成像系统、真空系统、记录系统、电源系统5部分构成，如果细分的话：主体部分是电子透镜和显像记录系统，由置于真空中的电子枪、聚光镜、物样室、 物镜、衍射镜、中间镜、 投影镜、荧光屏和照相机。TESCAN TENSOR高度集成、旋进辅助的分析型 4D- STEM TESCAN TENSOR 是一款中等加速......