高角环形暗场像,stem是扫描透射电子显微镜
产品特点：JEM-ARM200F标配了照明系统球差校正器，是一款原子分辨分析型透射电镜，拥有世界领先的STEM-HAADF像分辨率（78pm）。STEM-HAADF像的保证分辨率（78pm*1 ）为世界之领先性能标配照明系统球差校正器，且zei大限度地提升了装置的机械稳定性和电气稳定性，实现了世界领先的STEM-HAADF像分辨率 （78pm*1、......
产品规格：分辨率扫描透射暗场像82pm（加速电压200kV、肖特基场发射电子枪）78pm（加速电压200kV、冷场发射电子枪）透射像（点分辨率）190pm（加速电压200kV）110pm（加速电压200kV、安装TEM球差校正器）倍率扫描透射像X200～X150,000,000透射像X50～X2,000,000电子枪电子枪肖特基场发射电子枪 冷场发射电子枪（......
在美国的第一台搭载冷场发射电子枪的JEM-ARM200F将安装在Florida State University’s Applied Superconductivity Center, housed in the National High Magnetic Field Laboratory. 其后美国的Brookheaven......
JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜JEM-ARM300F实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配备了JEOL自主研发的球差校正器，zei高加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界zei高的STEM-HAADF像分辨率。产品特点：实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率JE......
产品特点：STEM-HAADF像的保证分辨率达到了前所未有的63pm采用JEOL自主研发的球差校正器，扫描透射像（STEM像)的保证分辨率可达63pm（300kV,超高分辨率极靴、使用STEM球差校正器时）。ETA校正器 JEOL自主研发的12极球差校正器 ※选配件ETA校正器（Expanding trajectory aberration correcto......
产品特点：实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器，zei高加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界zei高的STEM-HAADF像分辨率。STEM-HAADF像的保证分辨率达到了前所未有的63pm采用JEOL自主研发的球差校正器，扫描透射像（STEM像)的保证......
产品规格：分辨率300 kV，80 kV物镜种类※1UHR极靴HR极靴STEM分辨率（300kV） 使用STEM校正器0.063nm0.082nmTEM分辨率（300 kV）线分辨率0.05nm线分辨率0.06nm使用TEM校正器非线性信息分辨极限0.06nm非线性信息分辨极限0.08nm线性信息分辨极限0.09nm线性信息分辨极限0.12nmJEM-ARM......
JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜JEM-ARM300F实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配备了JEOL自主研发的球差校正器，zei高加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界zei高的STEM-HAADF像分辨率。产品特点：实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率JE......
产品特点：强大的冷场发射电子枪HyperCF300标配了全新设计的冷场发射电子枪,低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析。两种物镜极靴为了支持用户广泛的需求，研发了两种各具特点的物镜极靴。丰富的选购件能安装超大立体角EDS（能谱仪）、EELS（电子能量损失谱仪）、背散射电子检测器及四种STEM观察检测器。大范围的加速电压设置标配300kV和80kV下的......
Phenom Pharos 台式场发射扫描电镜因其多功能性和卓越的成像性能赢得了良好的口碑 —— 即使是在传统较难观测的样品中也表现优异。直观的用户界面有助于将高分辨率图像呈现给用户， FEG 场发射电子源在 1-20kV 的加速电压范围内都提供了高分辨率。Phenom Pharos STEM 台式场发射 SEM-STEM 电子显微镜，配备了 STEM 样品......