白光干涉仪的应用
STELLARIS白光激光器在为多色实验选择荧光探针时，您无需做出妥协。 现在，您可以超越传统激发源，摆脱在荧光团选择和多元成像能力方面的限制。扩展多色能力。更少妥协。STELLARIS新一代白光激光器（WLL）与我们提供的Power HyD探测器系列中最佳匹配的探测器相结合，使您可自由选择所有光谱，并准确组合适当的探针来解答您的实验问题。 WLL与我们自有......
安东帕的流变仪为流变测量领域开辟了广阔的发展空间。因此需要一款导航工具，能够提供完整的信息概要以及用户所需的准确分析结果，这就是：安东帕的 RheoCompass 软件是目前市场上最具创新性和最新的流变测量软件。RheoCompass 设计直观、操作简便，提供面向应用的模板筛选、自定义的测试、简便的数据检索和数据分析等功能，不一而足。流变技术与您一路同行流变......
WLI LA 白光干涉仪 本仪器比以往的显微镜可测面积大得多，使用者需在大测量面积和大数值孔径之间进行适当平衡。数值孔径决定了横向分辨率和可测量的微观/宏观表面倾斜程度。选择大约1.5 cm²的测量面积代表了zei适宜的平衡点。干涉仪可测量大的测量面积使其用来主要进行平面度测量，而对于微观结构则会获取太多无......
白光干涉仪概述Rtec 白光干涉仪在加利福尼亚硅谷制造。已被多个知名实验室、大学和行业使用。UP系列在一个头上组合了4种成像模式。能够在同一测试平台上运行多种测试，只需单击按钮，就能转换成像模式。这种组合可以轻松地对任何表面进行成像如透明、平坦、黑暗、扁平、弯曲的表面等。每种成像模式都具有各自的优势，并且各项技术彼此互补。该项整合技术不仅有利于数据的综合分析......
WLI测量系统是为准确测量表面轮廓、粗糙度、台阶高度、微观结构和其它表面参数而设计，可满足电子、汽车、制造工业的使用需求。扩展的显微镜模式能使用户获得具有以下特点的3D图像，对图像缩放、钉合、标记无效值、选择视场等操作。 测量和评估软件可自动测量，用户可......
Xper WLI 白光干涉仪 Xper WLI 白光干涉仪Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量......
Agilent Cary WinUV 软件是 Agilent Cary 60 紫外-可见分光光度计的补充。这款功能强大、简单易用的紫外-可见软件平台围绕常规分析人员和研究人员等的需求设计。执行准确的波长扫描或检测，动力学和浓度分析，并控制多种采样附件（如 18 池更换装置）。Cary WinUV 软件套装拥有针对具体应用的各种软件模块，旨在简化方法......
稳定的结构设计以及高度的集成化使得Polaris能够胜任在生产线及严苛的工业环境。Polaris专注于快速准确测量。Polaris白光干涉仪支持多种3D传感器，适用于各种类型的材料表面测量，包括高反光和倾斜的材料表面。强大的软件既能满足产线灵活的自动化重复检测需求，又能针对实验室的各种不同要求进行单独配置。令人难以想象的快速3D检测技术让Polaris在价格......
