dektak xt-a探针式轮廓仪
出色的灵敏度和特异性，可进行高通量分析信噪比优异，检测限极低： 20fg TCDD 上样，高分辨率MID 模式下的 S/N 为 200:1检测系统配有 ±20 kV 转换打拿级和长寿命二级电子倍增器，可高效检测离子定量限低质量数范围 2-6000 Da轻松持有可安装在小型实验室内功耗低比多数其他仪器噪音小所需的安装时间短可迅速投入高效使用其他重要特征提供范围......
Bruker 探针式表面轮廓仪（台阶仪）-DektakXT一、概述布鲁克DektakXT （探针式表面轮廓仪）设计创新，实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性<5?。这一里程碑式的产品源自于Dektak系列占据业界领xian地位长达四十年的优异表面测量技术。实现了纳米尺度的表面轮廓测量，在微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触......
德国布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供更高的重复性和分辨率，测量重复性可以达到5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新，更加巩固了其行业地位。不论应用于研发还是产品测量，通过在研究工作中的广泛使用，DektakXT能够做到功能更强大，操作更简易，检测过程和数据采集更完善。第十代Dek......
利用直接驱动扫描平台，Dektak XT减少了扫描间的时间，而没有影响分辨率和背景噪声。这一改进大大提高了大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描（就探针轮廓仪而言，通常是耗时的）的扫描速度。在保证行业的质量和重现性前提下，DektakXT可以将数据采集处理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker64-bit数据采集分析同步操作软件......
Dektak XTL Stylus Profiler System Bruker new Dektak XTL stylus profiler accommodates samples up to 350mm x 350mm, bringing legendary Dektak@repeatability and reproducibilit......
KLA D-300 探针式表面轮廓仪Alpha-Step D-300 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量，大垂直范围和低触力测量功能。 探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量，与材料特性无关。可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行精确测量。通过测......
Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品，为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和全封闭工作站设计，具有易用的联锁门，是当今苛刻的生产车间环境的的理想之选。其双摄像头架构可增强空间感知能力，其高自动化水平可最大限度地提高测试通量。业界最......
Dektak XTL探针式轮廓仪系统 严格质量保证与质量控制下，获得300毫米zei优性能探测 Bruker公司的新型Dektak XTL™探针式轮廓仪系统可容纳多达350毫米x350毫米的样品，将Dektak®优异的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片及面板制造业。Dektak XTL集成气体隔震装置和方便的交互......
岛津电子探针EPMAEPMA-1720系列用于测定光纤，符合行业标准暂无。适用使用岛津电子探针 EPMA 对不同类型的光纤进行线、面分析测试项目。 使用岛津电子探针EPMA可对不同类型的光纤进行线、面分析测试。从单根光纤试样的横截面的元素线分布和面分布的测试结果可以观察掺杂元素的含量及扩散分布情况。凭借其在微区分析的强大能力，可以在光纤预制棒、烧缩工艺后......
点击查看下载AFM及扫描探针SPM-9700扫描探针显微镜 型 扫描探针显微镜相关资料，进一步了解产品。 SPM-9700在基本观察功能的基础上融入了更强的测量功能，具备了卓越的信号处理能力，加上zei先进的VBDF功能，数字处理能力比同类产品提高40%，可得到更高分辨率、更高质量的观察图像。SPM-9700是一种全新的换代产品。 ......