dektak 3表面轮廓仪
Profilm3D 光学轮廓仪 低成本 – 高精度Filmetrics让3D光学轮廓测量的价格变得更加能够接受。Profilm3D使用先进的垂直干涉扫描(WLI)与高精度的相位干涉(PSI)技术。以前所未有的价格实现次纳米级的表面形貌研究。100mm自动XY样品台您还在位每人都希望要的功能而支付额外的费用吗？我们现在每台Pro......
Dektak XTL Stylus Profiler System Bruker new Dektak XTL stylus profiler accommodates samples up to 350mm x 350mm, bringing legendary Dektak@repeatability and reproducibilit......
KLA D-300 探针式表面轮廓仪Alpha-Step D-300 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量，大垂直范围和低触力测量功能。 探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量，与材料特性无关。可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行精确测量。通过测......
Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品，为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和全封闭工作站设计，具有易用的联锁门，是当今苛刻的生产车间环境的的理想之选。其双摄像头架构可增强空间感知能力，其高自动化水平可最大限度地提高测试通量。业界最......
安东帕固体表面 Zeta 电位分析仪SurPASS 3用于测定血液，符合行业标准暂无。适用透析膜内表面处理项目。 这个过程中，广泛使用的是人造的、成捆排布的中空纤维聚砜超滤膜（PSU）。为了提高透析膜的生物适应性以及避免该膜与血液接触时发生并发症，需要对透析膜的内层表面进行改良处理。 在表面分析中，固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和......
Dektak XTL探针式轮廓仪系统 严格质量保证与质量控制下，获得300毫米zei优性能探测 Bruker公司的新型Dektak XTL™探针式轮廓仪系统可容纳多达350毫米x350毫米的样品，将Dektak®优异的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片及面板制造业。Dektak XTL集成气体隔震装置和方便的交互......
点击查看下载SurPASS 3安东帕固体表面 Zeta 电位分析仪 表面特性表征相关资料，进一步了解产品。 表面力学特性分析 在表面分析中，固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法，从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有关表面电荷和相关性质的信息，并可检测表面性质中zei微小的变化。Zeta电位：范围：所用测量原......
点击查看下载安东帕SurPASS 3固体表面 Zeta 电位分析仪 聚合物表面电荷的形成相关资料，进一步了解产品。 Zeta电位是一个检测聚合物表面活化作用和污染非常灵敏的指示。 等电点：再现性：+/-0.1 pH平板固体：zei小 35 mm x 15 mm，厚度<20 mm，20 mm x 10 mm，厚度<2 mm，直径为 14 mm 或 ......
