dektak xt台阶仪

P-7 Stylus Profiler产品描述P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。P-7建立在市场的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17技术的卓越测量性能,并作为台式探针轮廓仪平台提供了极高的性价比。 P-7......

P-170 Stylus Profiler  P-170是cassette-to-cassette探针式轮廓仪,可提供几纳米至一毫米的台阶高度测量功能,适用于生产环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。 P-170具有先进的图案识别算法、增强的光学系统和先进的平台,这保证了性......

Dektak XT台阶仪

参考成交价格: 暂无

布鲁克 台阶仪

型号:Dektak -XT 10th

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德国布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5Å。台阶仪这项性能的提到了过去四十年Dektak技术创新,更加巩固了其行业地位。不论应用于研发还是产品测量,通过在研究工作中的广泛使用,DektakXT能够做到功能更强大,操作更简易,检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台......

点击查看下载XT-9916新拓型密闭式智能/萃取仪 XT系列 仪相关资料,进一步了解产品。 微波消解相比传统消解方法具有反应速率快,样品制备时间短,试剂消耗少,试剂空白值低,制样精度高等优点,可用于 AAS、AFS、ICP、ICP-MS等的样品前处理。睿科推出XT系列新拓微波消解仪,多种消解罐规格、高效便捷设计、多重安全保障,可满足不同样品的消解需求,适用于......

点击查看下载微波消解XT-9916新拓 XT系列 仪相关资料,进一步了解产品。 微波消解相比传统消解方法具有反应速率快,样品制备时间短,试剂消耗少,试剂空白值低,制样精度高等优点,可用于 AAS、AFS、ICP、ICP-MS等的样品前处理。睿科推出XT系列新拓微波消解仪,多种消解罐规格、高效便捷设计、多重安全保障,可满足不同样品的消解需求,适用于各种不同类......

点击查看下载新拓XT-T6微波消解 XT系列 仪相关资料,进一步了解产品。 ■  温度监控方式:特定可穿透罐体的中红外非接触式温度传感器,实时扫描和监控所有样品溶液的真实温度,并显示温度变化曲线■  泄压方式:消解罐具有“开关”式定量泄压功能,超过工作压力上限时,泄压槽自动泄压,无需防爆膜等常规消耗品,降压时又迅速闭......

点击查看下载新拓微波消解XT-MUI XT系列 仪相关资料,进一步了解产品。 微波消解相比传统消解方法具有反应速率快,样品制备时间短,试剂消耗少,试剂空白值低,制样精度高等优点,可用于 AAS、AFS、ICP、ICP-MS等的样品前处理。睿科推出XT系列新拓微波消解仪,多种消解罐规格、高效便捷设计、多重安全保障,可满足不同样品的消解需求,适用于各种不同类型的......

点击查看下载XT-9906微波消解型 密闭式智能/萃取仪 XT系列 仪相关资料,进一步了解产品。 微波消解相比传统消解方法具有反应速率快,样品制备时间短,试剂消耗少,试剂空白值低,制样精度高等优点,可用于 AAS、AFS、ICP、ICP-MS等的样品前处理。睿科推出XT系列新拓微波消解仪,多种消解罐规格、高效便捷设计、多重安全保障,可满足不同样品的消解需求,......

Bruker布鲁克台阶仪Dektak XT

参考成交价格: 30~40万元[人民币]

布鲁克 台阶仪

型号:Dektak XT

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布鲁克DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供无与伦比的重现性,重现性低于4A。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年 Dektak 技术创新的顶峰,更加巩固了其行业地位。通过整合其行业产品,DektakXT实现了高性能。操作简易,从研发到质量控制都有更好的过程控制。整合了技术突破到第十代 Dektak 台阶仪能够在微电子,半导体......

bruker布鲁克台阶仪Dektak XTL

参考成交价格: 70~100万元[人民币]

布鲁克 台阶仪

型号:Dektak XTL

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Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品,为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和全封闭工作站设计,具有易用的联锁门,是当今苛刻的生产车间环境的的理想之选。其双摄像头架构可增强空间感知能力,其高自动化水平可大限度地提高测试通量。增强的软件功能使 D......

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