jeol 2100f场发射透射电子显微镜
JEM-2800是日本电子透射电子显微镜系列中的一款特殊设计的产品，在兼顾高分辨高稳定性的同时，zei求分析效率的zei大化和操作的自动化。颠覆传统的电镜外观设计，除了让人耳目一新外，还对设置环境更具抗干扰能力。 主要技术指标： 1. 点分辨率：0.21nm； 2. 晶格分......
透射电镜使用电子穿透样品成像，实际上入射电子在穿越样品时会与样品发生复杂的相互作用，如果使用全部的透射电子成像，必然在细节上出现假象、失真甚至某些信息被掩盖。JEM-2200FS采用欧米伽能量过滤器，让透过电子穿过欧米伽形状的电磁透镜系统，具有不同电子的能量将被展开，我们可以选择零损失电子成像，还可以专门突出某种原子成像，非常方便......
透射电镜使用电子穿透样品成像，实际上入射电子在穿越样品时会与样品发生复杂的相互作用，如果使用全部的透射电子成像，必然在细节上出现假象、失真甚至某些信息被掩盖。JEM-2200FS采用欧米伽能量过滤器，让透过电子穿过欧米伽形状的电磁透镜系统，具有不同电子的能量将被展开，我们可以选择零损失电子成像，还可以专门突出某种原子成像，非常方便......
透射电镜使用电子穿透样品成像，实际上入射电子在穿越样品时会与样品发生复杂的相互作用，如果使用全部的透射电子成像，必然在细节上出现假象、失真甚至某些信息被掩盖。JEM-2200FS采用欧米伽能量过滤器，让透过电子穿过欧米伽形状的电磁透镜系统，具有不同电子的能量将被展开，我们可以选择零损失电子成像，还可以专门突出某种原子成像，非常方便。与此同时还可以......
产品规格物镜种类*1极高分辨率（UHR）型高分辨率（HR）型样品高倾斜（HT）型样品冷却（CR）型高衬度（HC）型分辨率 点分辨率晶格分辨率0.19 nm0.1 nm0.23 nm0.1 nm0.25 nm0.1 nm0.27 nm0.14 nm0.31 nm0.14 nm能量分辨率0.8 eV（零损失 FWHM）加速电压160 kV，200 kV*2电子枪......
JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜JEM-3200FS场发射电子显微镜配备了zei高加速电压为300kV的场发射电子枪（FEG）和镜筒内置式Ω型能量过滤器，能为广泛的研究领域提供各种全新的解决方案。产品特点：EM-3200FS场发射电子显微镜配备了zei高加速电压为300kV的场发射电子枪（FEG）和镜筒内置式Ω型能量过滤器，能为广泛的研究领域提供各......
JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜JEM-3200FS场发射电子显微镜配备了zei高加速电压为300kV的场发射电子枪（FEG）和镜筒内置式Ω型能量过滤器，能为广泛的研究领域提供各种全新的解决方案。产品特点：EM-3200FS场发射电子显微镜配备了zei高加速电压为300kV的场发射电子枪（FEG）和镜筒内置式Ω型能量过滤器，能为广泛的研究领域提供各......
Apreo功能最为丰富的高性能 SEMApreo 复合透镜结合了静电和磁浸没技术，可产生前所未有的高分辨率和材料对比度。Apreo 是研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台，而不会降低磁性样品性能。传统的高分辨率 SEM 透镜技术分为两类：磁浸没或静电。FEI 首次将两种技术结合到一个仪器中。这样做所产生的成效远远超过任一种镜筒的个体性能。两种技术均......
仪器简介：对材料特性的全面认识是理解材料性能的基本前提。材料形态、晶体结构、化学成分、界面结构、表面以及缺陷都对材料的性能产生影响。透射电子显微镜已经被证实是在小到埃级尺寸研究各种普通材料和先进材料的非常有效的技术。它能够产生很多的信号, 这些信号携带了不同类型的有用信息。Tecnai G220经过特殊设计可以快速有效地采集和处理这些信号。将高分辨图像、明场......
CRYO ARM™ 300 II 是一款低温冷冻透射电子显微镜，专门用于观察如蛋白质等对电子束敏感的样品，可进行单颗粒分析、断层扫描和MicroED等实验。与上一代CRYO ARM™ 300相比，具有更高的稳定性、效率和易用性。此外，该系统集多种功能于一体，可以处理从筛样到数据采集的整个过程，从而更灵活地为客户实现量身定做的使用体验。这些改进使用......