基于可靠性预计法的加速寿命试验案例

2024-01-30 14:09:52, 方子敏





 


















































































评估案例，为读者实施加速寿命试验提供参

基于可靠性预计法的加速寿命试验案例



近日，科鉴实验室公众号接连发布了可靠性寿命试验简介、加速试验方法介绍系列微信推文，得到业内人士一致好评，但是不少读者反馈看完试验简介后仍对电子产品加速试验存在疑惑，提出不清楚加速寿命要如何实施、加速因子如何选取等问题，本文以某型数字诊疗装备电路板为例，结合可靠性预计法，从加速因子的简介、加速因子的求解到整机加速因子推导流程归纳，并给出电子产品加速因子评估案例，为读者实施加速寿命试验提供参考。

一、概述

在本文中，先依据GJB/Z 299C-2006电子设备可靠性预计手册，对某型数字诊疗装备电路板进行加速预计。GJB/Z 299C针对在正常工作条件下工作的电子设备开展可靠性预计工作，总共包括两种预计方法，分别为：适用于设备研制阶段的元器件应力分析可靠性预计法和适用于产品研制初步设计阶段的元器件计数可靠性预计法。目前，该数字诊疗装备核心电路板属于研制定型阶段，故选用元器件应力分析可靠性预计法进行加速预计，给出加速应力及加速因子。


二、术语和定义



三、电子产品加速建模

加速系数是产品在正常应力水平下达到某一失效概率所经历的试验时间，与产品在加速应力水平下达到相同失效概率所经历的试验时间之比。那么对于服从指数分布的电子产品，失效率为常数，其失效概率函数为：

根据相关标准可知每类器件的失效率模型和参数，通过利用整机的元器件信息开展2轮可靠性预计，可分别得到高温下的电子设备可靠性失效率和常温下的电子设备失效率，从而得到电子设备的加速因子，加速因子评估方法流程见图1。


四、元器件应力分析可靠性预计





五、总结




可靠性加速试验方案多种多样，如时间压缩加速，应力法加速等等，具体选取何种方法试验，加速因子如何确定，要结合产品实际情况进行分析及验证。本文给出单应力的高温加速试验，并采用可靠性预计方法来确认加速因子，希望能让读者更多地了解可靠性加速试验。




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