布鲁克推出用于分析电子显微镜中的材料变形的先进原位纳米机械测试仪器

2020-10-28 01:38:00 布鲁克电子显微纳米分析仪器部

我渐渐就安于现状了，对于我的孤独，我也习惯了。总有那么多的人，追寻一些甜蜜温暖的东西，他们喜欢的永远是星星与花朵。但在星星雨花朵之中，怎样才能显得出一个人坚定的步伐呢。

明尼苏达州，明尼阿波利斯市 – 2020 年 10 月 14 日 – 布鲁克纳米机械测试业务部门今天宣布发布 Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter™，在更高载荷和更极端的环境中提供扫描电子显微镜（SEM）内的纳米机械测试。这有助于研究人员对高强度材料变形机制的理解。新系统将布鲁克的高性能控制器与独有的电容式传感器和内生位移技术相结合，可实现无与伦比的力和位移工作范围。

PI 89 SEM PicoIndenter是第一台具有两种旋转和倾斜级配置的原位设备。这可实现灵活的样品定位，实现包括上进行自上而下成像、通过 FIB进行铣削、主轴旋转用于晶体校准等，并可与各种探测器兼容，以实现复杂的材料构性关系相关性研究。

阿拉巴马分析研究中心主任格雷戈里·汤普森博士说：“阿拉巴马大学很高兴能成为布鲁克的Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter原位纳米机械测试单元的第一个用户。”机械工程教授Keivan Davami博士补充说：“该平台具有最先进的能力，可以实现极端的温度下同时加负载，用于获取前所未有的结构特性，包括透射菊池衍射和电子背散射衍射，以支持交叉学科研究。”

布鲁克纳米机械测试业务部总经理奥登·沃伦博士说：“Hysitron PI 89 仪器属于我们开创性的 PicoIndenter 系列，专门用于在电子显微镜中进行原位纳米机械性能测试。新平台具有卓越的多功能性、易用性和刚度，可支持更高的负载，结合多项专利功能，可以为客户提供SEM中最广泛的测试灵活性和行业领先的性能。我们很高兴看到这台新一代的仪器使更新的研究成为可能。”

关于海思创 PI 89 SEM PicoIndenter

Hysitron PI 89系统是布鲁克著名的 Hysitron PicoIndenter 系列用于 SEM的最新一代测试仪器。PI 89 利用布鲁克最先进的电容式传感器技术为研究人员提供先进的仪器，具有强大的功能，可提供卓越的性能和多功能。它的功能包括自动纳米压痕、快速机械性能成像（XPM）、疲劳测试、纳米摩擦学、专利的基于压转拉模式的薄膜和纳米线拉伸测试、直接拉伸测试、原位SPM 成像、电特性表征模块、专利的高温测试模块、专利的旋转和倾斜样品台，以及与 EBSD、EDS、CBD、TKD 和 STEM 等探测与分析技术兼容。