布鲁克推出新的Dimension XR系列扫描探针显微镜

布鲁克于2018年11月28日宣布推出Dimension XR™系列扫描探针显微镜（SPM）。这一新系统在原子力显微镜 技术上有了重大革新，主要包括：布鲁克独有的DataCube纳米电学测量模式，用于能源研究的AFM-SECM，以及首次将聚合物纳米力学和整体动态力学分析(DMA)结合的AFM-nDMA模式。Dimension XR 扫描探针显微镜系列基于世界上科学出版物中最常用的两种原子力显微镜 (Icon®和FastScan®)，共有三种配置，分别针对纳米力学、纳米电学和纳米电化学领域的应用进行了优化。Dimension XR系列极大地扩展了研究人员在空气或液体环境以及电学或化学反应中在纳米尺度量化材料特性的能力。

“新的Dimension XR系统提供了定量且易于使用的纳米力学、纳米电学以及纳米电化学表征手段，是经年累月创新的结晶。” 布鲁克AFM业务执行副总裁兼总经理David V. Rossi说到，“我们的目标是使这一首要且唯一的技术广泛应用于研究领域，通过纳米尺度下新的信息以实现AFM突破性的发现。”

布鲁克的Dimension XR系统可在Icon或FastScan原子力显微镜平台上使用，并具有三种配置，可为纳米力学、纳米电学和纳米电化学领域突破性的研究提供开箱即用的表征手段。 Dimension XR 纳米力学配置结合了AFM-nDMA、PeakForce QNM、FASTForce Volume以及FASTForce Volume CR模式，可以快速、定量地表征材料的纳米力学特性。 Dimension XR 纳米电学配置包括PeakForce TUNA™、PeakForce KPFM™以及DataCube模式，可以在单个体系上给出最完整的纳米电学信息阵列。 Dimension XR 纳米电化学配置具有使用布鲁克独家纳米电极探针的EC-AFM和PeakForce SECM™模式，可以在电化学环境中进行原位形貌扫描，为纳米级局部反应特性的实时定量分析提供了整体解决方案。