【参会邀请】第13届上海市 X 射线分析学术大会

2026-07-10 11:48:40 布鲁克X射线产品、电子显微镜分析仪器(Bruker AXS)






会议简介

本次学术交流范围包括但不限于:

  1. X射线分析技术在新材料研究中的应用,
  2. X 射线晶体结构分析,
  3. Rietveld结构精修与应用,
  4. 薄膜与界面分析,
  5. 织构与各向异性分析,
  6. 宏观应力与微观应力分析,
  7. 小角散射分析,
  8. X射线成像技术,
  9. X 射线在工业中的应用,
  10. 同步辐射X射线技术及应用等。

会议期间,布鲁克王欲天 博士将做精彩报告《高能X射线衍射—突破传统衍射局限》。同时,我们诚邀您前来布鲁克展台,面对面交流X射线衍射分析技术的最新进展。






举办时间和地点

2026年7月11日
上海,喜来登酒店(上海市嘉定区嘉唐公路66号)





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参会方式

点击文末的“阅读原文”,浏览布鲁克官网详情页,报名参加本次大会。




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