“芯”升级，新“净”界 | 安捷伦光谱 PFA 耗材助力半导体痕量分析

在半导体行业，哪怕是极微量的金属污染，都可能影响产品良率。因此，如何降低背景干扰、减少污染风险、提升检测稳定性，成为实验室面临的重要挑战。

任何来自样品容器、进样系统或气路系统的微量污染，都可能直接影响分析结果。

许多实验室在使用 ICP-MS 进行半导体材料分析时，经常遇到：

不少客户甚至需要：

既增加工作量，也增加了分析风险。

对于：

客户往往希望根据应用需求灵活调整进样流速。然而传统 PFA 雾化器通常仅提供固定流量选择，限制了方法优化空间。

对于半导体实验室而言，样品容器往往是最容易被忽视的污染来源之一。

安捷伦全新 PFA 样品瓶采用高纯 PFA 材料制造，帮助用户获得更低背景水平。

PFA 材料具有优异的化学惰性和洁净度，可有效降低金属本底。特别适用于：

无需再使用自制方案。安捷伦 PFA 样品瓶可直接匹配：

不止于样品瓶。除了 PFA 样品容器，安捷伦还同步推出：

帮助实验室进一步降低污染风险，获得更可靠的数据结果。

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