直播邀请 | 联用微分析工作流程：整合自动矿物学、FIB-SEM 与 SIMS 进行颗粒分析

2026.5.27 (周三) 15:00

线上直播

William Rickard 教授将展示一套工作流程，该流程整合了自动矿物学、FIB-SEM、ToF-SIMS 和 LG-SIMS 四种技术，用于依次分析同一个颗粒或感兴趣区域。他们先将硅基底制成特定图形，再应用仿射坐标变换，从而在电子显微镜和质谱仪之间精准定位到同一个颗粒。

这一方法既能支持高通量、大面积地搜索颗粒，也能在此基础上对目标颗粒进行多仪器的针对性表征。它帮助研究人员更精准、更高效地探究复杂的科学问题。

核心价值

在颗粒分析中，联用工作流程正变得越来越重要，因为没有任何一种技术能单独给出全部所需信息。将大面积颗粒搜索与多仪器针对性表征结合起来，研究人员就能更全面地认识颗粒特性，也能获得更可靠的数据。

学习要点

• 联用工作流程如何帮助我们更全面地表征颗粒

• 如何跨多台仪器定位到同一个颗粒

• 自动矿物学、FIB-SEM、ToF-SIMS 和 LG-SIMS 如何互相配合

• 如何将高通量颗粒搜索与针对性表征衔接起来

适合人群

• 需要处理复杂颗粒表征工作的地球科学家

• 从事微米级颗粒分析的环境与核科学领域研究人员

• 精通 LA-ICP-MS、EPMA 和 SIMS 等微分析技术的专家

• 对联用工作流程感兴趣的电子显微镜和 FIB-SEM 用户

• 希望精确定位感兴趣区域并跨仪器进行分析的研究人员

立即注册本次直播，了解如何通过联用微分析工作流程，跨多台仪器实现更精准、更高效的颗粒分析。