材料视界 | 使用Hellma线性滤光片在可见区域中进行线性度测量

2025-11-25 10:57:10, 珀金埃尔默珀金埃尔默企业管理（上海）有限公司

本文介绍了使用Hellma^®线性滤光片研究珀金埃尔默^®高性能LAMBDA^™仪器（LAMBDA 850+和1050+）测量光谱可见区域线性度的方法。Hellma^®线性滤光片是由单块“有色”玻璃切割而成，然后经抛光处理和高精度光学加工，厚度递增，546 nm处吸光度对应增加。

实验部分

使用LAMBDA 1050+在400-700 nm波长范围内按2 nm步进扫描，狭缝宽度为5 nm，检测器响应时间为1秒。

需要时，使用内部衰减器对参考光束进行衰减处理，从而优化参比和样品光束强度。

LAMBDA 1050+可进行2 A和3 A自动衰减，可通过样品室窗口上的附设磁性衰减器增强衰减效果。

对所有光谱进行100%和0%自动归零校正扫描。

结果和讨论

收集的光谱数据如图1所示。

图1.使用Hellma^®滤光片（F1-F7⸺参见表1）在400-700 nm波长范围内按2 nm步进进行扫描，狭缝宽度为5 nm，积分时间为1秒。参考光束的衰减值列于滤光片编号之后（点击查看大图）

图2为根据滤光片厚度绘制的数据图。采用最小二乘法执行数据的线性拟合。与线性拟合的偏差小于0.04 A。滤光片厚度公差（±10 μm)。拟合线与原点在0.036 A处相交，符合预期结果，因为本实验不考虑滤光片两个表面上的反射损耗。每个表面的实测反射损耗为 4%T，符合这种玻璃滤光片的预期结果。

图2.Hellma^®滤光片的滤光片厚度与实测吸光度关系图（点击查看大图）

结论

采用本方法获得了吸光度大于8 A的样品的高质量光谱数据。数据中的吸光度线性关系非常好，与线性拟合的偏差很小（< 0.04A），这些误差可归因于Hellma^®线性滤光片自身的厚度公差。

这些结果是用LAMBDA 1050+分光光度计测得的，LAMBDA 850+/1050+系列仪器有相同的光学结构都可以获得相同的结果。LAMBDA 850+/1050+具有更高的光通量（光源倍增镜）和高达3 A的内置自动衰减器，可增强高吸光度样品测试的功能性。