使用 GEO-TRACE-PAK 压片法对地质样品进行微量元素分析

GEO-TRACE-PAK适用于理学公司的顺序式波长色散型X射线荧光光谱仪，包括ZSX Primus IV、ZSX Primus IVi以及ZSX Primus III NEXT型号。

为了提高WDXRF光谱仪的光谱分辨率，需选配LiF(220)分析晶体。在ZSX Primus III NEXT型号中，还需额外选配Ge晶体。

校准的准确度通过以下公式计算：

C_i：标准样品的认证值
Ĉ_i：标准样品的计算值
n：标准样品的数量
m：自由度（2 代表线性，3 代表二次曲线）

LLD（检测下限）通过以下公式计算：

m：校准灵敏度（千计数每秒 / 百万分率，kcps/ppm）
σ_B：背景强度的标准偏差（千计数每秒，kcps）
I_B：背景强度（千计数每秒，kcps）
t：计数时间（秒，s）

图 1 铬（Cr）、钇（Y）和铅（Pb）的校准曲线
其中，铬的校准曲线分别展示了高含量范围和低含量范围的曲线；钇和铅的校准曲线采用了康普顿散射校正，曲线的纵轴为元素谱线与铑（Rh）-Kα 康普顿散射线的强度比。

GEO-TRACE-PAK可适用于含有或不含粘结剂的压片样品。该校准方法是基于不含粘结剂的有证标准样品压片建立的，但其中包含了针对不同粘结剂混合比例的校正系数，因此也适用于不同粘结剂比例的样品。如果使用粘结剂，则粘结剂的含量应不超过样品总重量的20%，且应使用SpectroBlend^®粘结剂。

分析样品粒径应研磨至50微米以下。

理学公司（Rigaku）提供的“GEO-TRACE-PAK”预校准分析包，适用于地质材料中微量元素的分析。该分析包中的校准数据以及相关参数（如测量条件与校正系数）在系统出厂时已预先安装，用户只需运行分析包中附带的漂移校正样品，即可开始进行分析。

由于校准中已结合了谱线重叠校正、康普顿散射线校正以及主要元素的理论α校正，GEO-TRACE-PAK可广泛应用于多种类型的地质材料。

该分析包还包含了针对粘结剂（SpectroBlend®）混合比例的校正系数。用户可根据待测地质材料的特性，灵活选择是否使用粘结剂，以及调整其混合比例。

使用理学 GEO-TRACE-PAK分析包，为您的元素分析精准达成，事半功倍！