2026-05-13 11:29:43 理学中国
ZSX Primus IV
上照式波长色散 X 射线荧光光谱仪
全方位元素分析:固体、液体、粉末、合金及薄膜
理学 ZSX Primus IV 采用先进的上照式顺序式 WDXRF 技术,可对从铍 (Be) 到锔 (Cm) 的主次元素进行高效定量测定。其广泛的样品适应性与极低的标准样依赖,助力科研人员在各类复杂材料分析中实现快速突破。
全新 ZSX Guidance XRF 软件:让精准分析触手可及
XRF 分析一定要由专家亲力亲为吗?答案是否定的。随着 ZSX Guidance 软件的问世,复杂的仪器操作已成为历史。我们将理学 XRF 专家的实战经验与核心知识融入系统,让软件成为您身边的“虚拟专家”。操作人员仅需录入基础样品信息及成分要求,系统便会自动完成从最优谱线选取、背景优化到谱线重叠修正等一系列复杂设置。让您的分析工作更智能、更高效。
上照式光学设计赋能:可靠性与轻元素分析的完美结合
理学 ZSX PrimusIV 以“上照式”结构重新定义了 XRF 的可靠性。由于光学系统位于样品上方,您再也不必为光路污染或繁琐的样品室清洁而担忧,从而获得更长的仪器连续运行时间。作为 WDXRF 领域的佼佼者,ZSX PrimusIV 搭载了行业领先的 30 微米超薄端窗光管,能够轻松应对最复杂的样品类型,并在轻元素探测领域展现出惊人的灵敏度。
元素分布图与多点分析:解密材料微观均匀性
理学ZSX PrimusIV 搭载了前沿的元素分布图(Mapping)分析模块,不仅能直观呈现成分分布的均匀性,还能敏锐捕捉微小的夹杂物。这种深度的 XRF 谱学分析能力,能够揭示许多传统分析方法难以发现的关键信息。结合灵活的多点分析功能,ZSX PrimusIV 还能有效规避非均匀材料带来的采样偏差,确保数据的真实可靠。
SQX 基本参数法与EZ-scan软件:XRF 极简分析
凭借 EZ-scan 功能,即便是面对完全未知的样品,用户也无需繁琐的预设即可开展 XRF 元素分析。这种极简的操作流程只需录入样品名并轻点鼠标,即可大幅节省研发时间。在底层技术上,SQX 基本参数法软件为快速分析提供了精准保障:它不仅能自动校正基体效应与谱线重叠,还能精准补偿轻元素的二次激发、环境波动及样品尺寸差异带来的干扰。配合内置的匹配库与优化扫描程序,让您在享受便捷操作的同时,获得行业领先的分析精度。
灵活的气体吹扫机制:支持氮气替代氦气分析
为了优化实验室运行成本,理学 ZSX Primus IV 现已支持使用氮气替代昂贵的氦气作为测量环境气。在氮气氛围下,SQX 能够覆盖从磷(P)到锔(Cm)的宽广元素分析范围。此模式下,系统将自动调整算法(注:此时不适用标准的 SQX 散射 FP 法),以确保在该成本优化方案下依然获得可靠的定量结果。
钠离子电池正极材料的成分分析
Sodium-ion Batteries
01
简介
Introduction
伴随着资源丰度与安全性的考量,钠离子电池已成为下一代储能技术的焦点。特别是原材料易得的(NaFeO₂),被视为下一代高性能正极材料的有力竞争者。在钠电研发与质量控制流程中,如何高效进行成分分析?理学提供的无标样 FP(基本参数)法 XRF 分析方案,大幅简化了前处理步骤,助您快速精准地完成材料组分及杂质的评估,为研发决策提供可靠的数据支持。
02
元素定性与定量分析
Elemental analysis
分析项目: 钠电正极材料
应用目的:优化电化学性能
分析手段: 无标样 FP 分析法
图 1:样品制备:压片法
表1:实验数据
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表2:主成分摩尔配比分析结果
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03
结论
Conclusion
实验通过将粉末样品压片后,采用理学核心的无标样 FP 法进行检测。结果表明,主要元素 Na 与 Fe 的化学计量比与理论值完全一致,展现了极高的定量精度。同时,该方案敏锐捕捉到了低至数个 ppm 级别的痕量杂质(如 Al、Si、Cr 等),体现了多元素同步分析的强大感度与效率。凭借无标样 FP 技术,研发人员无需繁琐的标样准备,即可实现对未知组分的快速“盲测”与精准定性。
磷酸铁锂(LiFePO₄)正极材料中痕量成分的分析
LiFePO₄ Cathode Materia
在磷酸铁锂(LFP)的生产与研发中,原材料及工艺引入的微量杂质是威胁电池性能与安全的隐患。虽然 ICP-AES 是常规的检测手段,但在面对氟(F)和硅(Si)等特殊元素时往往力不从心。理学 XRF 的无标样 FP 法另辟蹊径,通过灵活的“固定角测量”技术延长目标元素的信号采集时间,显著增强了检测灵敏度,为 LFP 正极材料的品质把控提供了更全面、更高效的分析利器。
02
元素定性与定量分析
Elemental analysis
分析项目:锂离子电池正极材料(磷酸铁锂 LiFePO₄)
应用目的:优化电化学性能
分析手段: 无标样 FP 分析法
图 1:样品制备:压片法
图1:不同样品的XRF分析图谱对比
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图2:不同样品的氟(F-Kα)特征谱线对比
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表1:不同样品的SQX定量分析值与标准差对比
PPM
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ND(未检出):指测量值小于最低检出限(LLD)。LLD 的定义为背景强度统计误差的 3 倍。
03
结论
Conclusion
实验采用固定角测量技术,确保了痕量成分分析达到所需的定量限。通过对比图 1 与表 1 发现:对比高纯 LiFePO₄ 试剂(样品 A),电池级正极材料(样品 B 和 C)中杂质含量高达数十至数千 ppm,充分揭示了不同材料等级间显著的品质差异。此外,如图 2 所示,理学 XRF 能够同步定量分析氟(F)等 ICP-AES 的难测元素,有效解决了传统湿法分析的局限性。
About Rigaku
关于理学
自 1951 年创立以来,理学在 X 射线检测领域深耕七十余载。依托深厚的技术积淀与持续的创新突破,我们打造了覆盖电池产业全流程、全场景的 X 射线解决方案体系。从原材料分析到制程优化,从实验室研发到智能化生产,理学的专业技术与服务已赋能全球顶尖电池企业,始终以精准可靠的检测技术为产业发展保驾护航。未来,我们将继续以创新为核心驱动力,致力于为全球客户提供更安全、更高效的解决方案。
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