Filmetrics F54-XY-200 全自动Mapping膜厚分布测量系统

Filmetrics F54-XY-200 全自动Mapping膜厚分布测量系统产品介绍：

Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪借助光谱反射系统，可以测量尺寸达200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供厚度测量，达到每秒两点。您可以从数十种预定义的极性，矩形或线性测量坐标图案中选择，也可以创建自己编辑的测量点数量。此桌面系统只需几分钟即可完成设置，任何具有基本计算机技能的人都可以使用。

Filmetrics F54-XY-200 全自动Mapping膜厚分布测量系统产品特点优势：

• 自动化薄膜厚度绘图系统，快速定位、实时获得结果；

• 可测样品膜层：基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量；

• 测绘结果可用2D或3D呈现，方便用户从不同的角度检视；

Filmetrics F54-XY-200 全自动Mapping膜厚分布测量系统测量原理：

当入射光穿透不同物质的界面时将会有部分的光被反射，由于光的波动性导致从多个界面的反射光彼此干涉，从而使反射光的多波长光谱产生震荡的现象。从光谱的震荡频率，可以判断不同界面的距离进而得到材料的厚度（越多的震荡代表越大的厚度），同时也能得到其他的材料特性如折射率与粗糙度。

Filmetrics F54-XY-200 全自动Mapping膜厚分布测量系统工业应用：

Filmetrics F54-XY-200 全自动Mapping膜厚分布测量系统参数：

Filmetrics F54-XY-200 全自动Mapping膜厚分布测量系统测量图：

Filmetrics F54-XY-200 膜厚仪-全自动Mapping膜厚分布测量系统信息由优尼康科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于Filmetrics F54-XY-200 膜厚仪-全自动Mapping膜厚分布测量系统报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。